Sfoglia per Rivista ULTRAMICROSCOPY
Mostrati risultati da 1 a 7 di 7
Analysis of irradiated Ag and Si by molecular dynamics and calculated HREM imaging
1995 Mattei, Giovanni; A. M., Mazzone
Analysis of the capability of HREM applied to quantum heterostructures
1996 Mattei, Giovanni; Mazzone, Am
Compositional accuracy of atom probe tomography measurements in GaN: Impact of experimental parameters and multiple evaporation events
2018 Di Russo, E.; Blum, I.; Houard, J.; Gilbert, M.; Da Costa, G.; Blavette, D.; Rigutti, L.
Crystal defects induced during Ti:LiNbO3 optical waveguide fabrication
1983 P., Franzosi; P., Sgarzi; Zanoni, Enrico
Influence of electron-beam parameters on the radiation-induced formation of graphitic onions
1995 G., Lulli; A., Parisini; Mattei, Giovanni
On the resolution of semiconductor multilayers with a scanning electron microscope
1995 P. G., Merli; A., Migliori; M., Nacucchi; D., Govoni; Mattei, Giovanni
Tem and Rbs Study of Strained Ingaas Gaas Single Heterostructures Grown By Mbe
1990 G., Salviati; C., Ferrari; Drigo, Antonio; Carnera, Alberto; F., Genova
Mostrati risultati da 1 a 7 di 7
Legenda icone
- file ad accesso aperto
- file disponibili sulla rete interna
- file disponibili agli utenti autorizzati
- file disponibili solo agli amministratori
- file sotto embargo
- nessun file disponibile