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Characterization measurements for the realization of the Filter Strip Assembly of the EnVisS camera
2025 Naletto, C.; Nordera, S.; Senter, L.; Zuppella, P.; Fiocco, L. G.; Gabrieli, R.; Tofani, B.; Zaccariotto, M.; Corte, V. D.; Da Deppo, V.
Characterization of the polarizing filters for the EnVisS camera
2024 Naletto, C.; Chioetto, P.; Nordera, S.; Zaccariotto, M.; Zuppella, P.; Da Deppo, V.
| Titolo | Data di pubblicazione | Autori | Rivista | Serie | Titolo libro |
|---|---|---|---|---|---|
| Characterization measurements for the realization of the Filter Strip Assembly of the EnVisS camera | 2025 | Naletto C.Senter L.Zaccariotto M. + | - | PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING | Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering |
| Characterization of the polarizing filters for the EnVisS camera | 2024 | Naletto C.Chioetto P.Zaccariotto M. + | - | PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING | Space Telescopes and Instrumentation 2024: Optical, Infrared, and Millimeter Wave |
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