Sfoglia per Autore
Mostrati risultati da 1 a 4 di 4
Noise Characteristics of Radiation-Induced Soft Breakdown Current in Ultrathin oxides
2001 Cester, Andrea; L., Bandiera; Ceschia, Marco; G., Ghidini; Paccagnella, Alessandro
A MODEL OF RADIATION INDUCED LEAKAGE CURRENT (RILC) IN ULTRA-THIN OXIDES
1999 Larcher, L.; Paccagnella, Alessandro; Ceschia, M.; Ghidini, G.
Low-Field Current on Thin Oxides After Constant Current or Irradiation Stresses
1998 Ceschia, Marco; Paccagnella, Alessandro; Cester, Andrea; A., Scarpa; A., Candelori; G., Ghidini
Forward and reverse characteristics of irradiated MOSFETs
1996 Paccagnella, Alessandro; Ceschia, Marco; G., Verzellesi; G. F., Dalla Betta; P., Bellutti; P. G., Fuochi; G., Soncini
Mostrati risultati da 1 a 4 di 4
Legenda icone
- file ad accesso aperto
- file disponibili sulla rete interna
- file disponibili agli utenti autorizzati
- file disponibili solo agli amministratori
- file sotto embargo
- nessun file disponibile