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Modeling the Electrical Degradation of Micro-Transfer Printed 845 nm VCSILs for Silicon Photonics
2024 Zenari, Michele; Buffolo, Matteo; Santi, Carlo De; Goyvaerts, Jeroen; Grabowski, Alexander; Gustavsson, Johan; Baets, Roel; Larsson, Anders; Roelkens, Günther; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Review and Outlook on GaN and SiC Power Devices: Industrial State-of-the-Art, Applications, and Perspectives
2024 Buffolo, M.; Favero, D.; Marcuzzi, A.; Santi, Carlo De; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Modeling of the electrical characteristics and degradation mechanisms of UV-C LEDs
2024 Roccato, Nicola; Piva, Francesco; De Santi, Carlo; Buffolo, Matteo; Susilo, Normal; Vidal, Daniel Hauer; Muhin, Anton; Sulmoni, Luca; Wernicke, Tim; Kneissl, Micheal; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
V-Pits and Trench-Like Defects in High Periodicity MQWs GaN-Based Solar Cells: Extensive Electro-Optical Analysis
2024 Nicoletto, Marco; Caria, Alessandro; Rampazzo, Fabiana; De Santi, Carlo; Buffolo, Matteo; Rossi, Francesca; Huang, Xuanqui; Fu, Houqiang; Chen, Hong; Zhao, Yuji; Gasparotto, Andrea; Becht, Conny; Schwarz, Ulrich T.; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Origin and Recovery of Negative Vth Shift on 4H-SiC MOS Capacitors: an Analysis Based on Inverse Laplace Transform and Temperature-Dependent Measurements
2023 Marcuzzi, Alberto; Avramenko, Marina; DE SANTI, Carlo; Geenen, Filip; Moens, Peter; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Impact of Mg-doping on the performance and degradation of AlGaN-based UV-C LEDs
2023 Piva, F.; Grigoletto, M.; Brescancin, R.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Ruschel, J.; Glaab, J.; Hauer Vidal, D.; Guttmann, M.; Rass, J.; Einfeldt, S.; Susilo, N.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Microwave and Millimeter-Wave GaN HEMTs: Impact of Epitaxial Structure on Short-Channel Effects, Electron Trapping, and Reliability
2023 Zanoni, Enrico; Santi, Carlo De; Gao, Zhan; Buffolo, Matteo; Fornasier, Mirko; Saro, Marco; Pieri, Francesco De; Rampazzo, Fabiana; Meneghesso, Gaudenzio; Meneghini, Matteo; Zagni, Nicolò; Chini, Alessandro; Verzellesi, Giovanni
Status of Performance and Reliability of 265 nm Commercial UV-C LEDs in 2023
2023 Piva, Francesco; Buffolo, Matteo; Santi, Carlo De; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo; Trivellin, Nicola
Modeling the electrical degradation of AlGaN-based UV-C LEDs by combined deep-level optical spectroscopy and TCAD simulations
2023 Roccato, N.; Piva, F.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Fregolent, M.; Pilati, M.; Susilo, N.; Vidal, D. H.; Muhin, A.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Addressing the Optical Degradation of 1.3 μm Quantum Dot Lasers through Subthreshold Characterization
2023 Zenari, Michele; Buffolo, Matteo; De Santi, Carlo; Norman, Justin; Hughes, Eamonn T.; Bowers, John E.; Herrick, Robert; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Influence of V-Pits on the Turn-On Voltage of GaN-Based High Periodicity Multiple Quantum Well Solar Cells
2023 Nicoletto, M; Caria, A; Rampazzo, F; De Santi, C; Buffolo, M; Mura, G; Rossi, F; Huang, Xq; Fu, Hq; Chen, H; Zhao, Yj; Meneghesso, G; Zanoni, E; Meneghini, M
Early failure of high-power white LEDs for outdoor applications under extreme electrical stress: Role of silicone encapsulant
2023 Caria, A.; Fraccaroli, R.; Pierobon, G.; Castellaro, T.; Mura, G.; Ricci, P. C.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Trivellin, N.; Zanoni, E.; Meneghesso, G.; Meneghini, M.
Improving the Reliability of InAs Quantum-Dot Laser Diodes for Silicon Photonics: the Role of Trapping Layers and Misfit-Dislocation Density
2023 Buffolo, M.; Zenari, M.; De Santi, C.; Shang, C.; Hughes, E.; Wan, Y.; Bowers, J. E.; Herrick, R. W.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Storia e Storie del DEI. Trentacinque anni del Dipartimento di Ingegneria dell’Informazione dell’Università di Padova
2023 Agosti, Maristella; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
Introduzione
2023 Agosti, M.; Zanoni, E.
Addressing the electrical degradation of 845 nm micro-transfer printed VCSILs through TCAD simulations
2023 Zenari, M.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Goyvaerts, J.; Grabowski, A.; Gustavsson, J.; Baets, R.; Larsson, A.; Roelkens, G.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Modeling the electrical characteristic and degradation mechanisms of UV-C LEDs
2023 Roccato, Nicola; Piva, Francesco; De Santi, Carlo; Buffolo, Matteo; Susilo, Normal; Vidal, Daniel Hauer; Muhin, Anton; Sulmoni, Luca; Wernicke, Tim; Kneissl, Micheal; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Degradation of AlGaN-based UV-C SQW LEDs analyzed by means of capacitance deep-level transient spectroscopy and numerical simulations
2023 Piva, F.; Pilati, M.; Buffolo, M.; Roccato, N.; Susilo, N.; Hauer Vidal, D.; Muhin, A.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; De Santi, C.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Performance and Degradation of Commercial Ultraviolet-C Light-Emitting Diodes for Disinfection Purposes
2023 Trivellin, N; Piva, F; Fiorimonte, D; Buffolo, M; De Santi, C; Zanoni, E; Meneghesso, G; Meneghini, M
Semi-Transparent Perovskite Solar Cells: Performance and Perspectives
2023 Tormena, Noah; Barrantes, JESSICA JAZMINE NICOLE; Caria, Alessandro; Buffolo, Matteo; DE SANTI, Carlo; Trivellin, Nicola; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Cester, Andrea; Meneghini, Matteo; Matteocci, Fabio; Di Carlo, Aldo
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