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Modeling of the electrical characteristics and degradation mechanisms of UV-C LEDs
2024 Roccato, Nicola; Piva, Francesco; De Santi, Carlo; Buffolo, Matteo; Susilo, Normal; Vidal, Daniel Hauer; Muhin, Anton; Sulmoni, Luca; Wernicke, Tim; Kneissl, Micheal; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Modeling the Electrical Degradation of Micro-Transfer Printed 845 nm VCSILs for Silicon Photonics
2024 Zenari, Michele; Buffolo, Matteo; Santi, Carlo De; Goyvaerts, Jeroen; Grabowski, Alexander; Gustavsson, Johan; Baets, Roel; Larsson, Anders; Roelkens, Günther; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Review and Outlook on GaN and SiC Power Devices: Industrial State-of-the-Art, Applications, and Perspectives
2024 Buffolo, M.; Favero, D.; Marcuzzi, A.; Santi, Carlo De; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
V-Pits and Trench-Like Defects in High Periodicity MQWs GaN-Based Solar Cells: Extensive Electro-Optical Analysis
2024 Nicoletto, Marco; Caria, Alessandro; Rampazzo, Fabiana; De Santi, Carlo; Buffolo, Matteo; Rossi, Francesca; Huang, Xuanqui; Fu, Houqiang; Chen, Hong; Zhao, Yuji; Gasparotto, Andrea; Becht, Conny; Schwarz, Ulrich T.; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Analysis of CdSe as an alternative buffer layer for Sb2Se3 solar cells
2023 Torabi, Narges; Artegiani, Elisa; Gasparotto, Andrea; Piccinelli, Fabio; Meneghini, Matteo; Meneghesso, Gaudenzio; Romeo, Alessandro
Degradation of GaN-Based Multiple Quantum Wells Solar Cells Under Forward Bias: Investigation Based on Optical Measurements and Steady-State Photocapacitance
2023 Caria, A; De Santi, C; Buffolo, M; Nicoletto, M; Huang, Xq; Fu, Hq; Chen, H; Zhao, Yj; Meneghesso, G; Zanoni, E; Meneghini, M
Optically Induced Degradation Due to Thermally Activated Diffusion in GaN-Based InGaN/GaN MQW Solar Cells
2023 Nicoletto, Marco; Caria, Alessandro; Santi, Carlo De; Buffolo, Matteo; Huang, Xuanqui; Fu, Houqiang; Chen, Hong; Zhao, Yuji; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Improving the Reliability of InAs Quantum-Dot Laser Diodes for Silicon Photonics: the Role of Trapping Layers and Misfit-Dislocation Density
2023 Buffolo, M.; Zenari, M.; De Santi, C.; Shang, C.; Hughes, E.; Wan, Y.; Bowers, J. E.; Herrick, R. W.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Correlating Interface and Border Traps With Distinctive Features of C–V Curves in Vertical Al2O3/GaN MOS Capacitors
2023 Zagni, Nicolò; Fregolent, Manuel; Verzellesi, Giovanni; Marcuzzi, Alberto; Santi, Carlo De; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Treidel, Eldad Bahat; Brusaterra, Enrico; Brunner, Frank; Hilt, Oliver; Meneghini, Matteo; Pavan, Paolo
Injection-limited efficiency of InGaN LEDs and impact on electro-optical performance and ageing: a case study
2023 Casu, Claudia; Buffolo, Matteo; Caria, Alessandro; De Santi, Carlo; Zanoni, Enrico; Meneghesso, Gaudenzio; Meneghini, Matteo
Origin and Recovery of Negative Vth Shift on 4H-SiC MOS Capacitors: an Analysis Based on Inverse Laplace Transform and Temperature-Dependent Measurements
2023 Marcuzzi, Alberto; Avramenko, Marina; DE SANTI, Carlo; Geenen, Filip; Moens, Peter; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Threshold Voltage Instability in SiC MOSFETs: Analysis and Modeling
2023 Meneghini, M.; Marcuzzi, A.; Masin, F.; De Santi, C.; Avramenko, M.; Geenen, F.; Moens, P.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.
GaN Vertical Devices: challenges for high performance and stability
2023 Meneghini, Matteo; Fregolent, Manuel; Zagni, Nicolò; DE SANTI, Carlo; Bahat Treidel, Eldad; Brusaterra, Enrico; Brunner, Frank; Hilt, Oliver; Christianhuber, ; Buffolo, Matteo; Marcuzzi, Alberto; Favero, Davide; Del Fiol, Andrea; Verzellesi, Giovanni; Pavan, Paolo; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
Reliability investigation on 265 nm UV-C LEDs from a commercial point of view
2023 Piva, Francesco; Buffolo, Matteo; DE SANTI, Carlo; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo; Trivellin, Nicola
Transconductance overshoot as a signature of trapping effects at backbarrier interface of GaN HEMTs : dependence on device epitaxial structure
2023 Gao, Zhan; Fornasier, Mirko; DE PIERI, Francesco; DE SANTI, Carlo; Rampazzo, Fabiana; Meneghini, Matteo; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
On the degradation mechanisms of state-of-the-art UV-C LEDs
2023 Buffolo, Matteo; Piva, Francesco; Roccato, Nicola; DE SANTI, Carlo; Trivellin, Nicola; Pilati, Marco; Susilo, Norman; Muhin, Anton; Sulmoni, Luca; Wernicke, Tim; Kneissl, Michael; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Physics-based trap analysis and compact modeling performance evaluation of AlGaN/GaN HEMTs
2023 DE SANTI, Carlo; Modolo, Nicola; Baratella, Giulio; Borga, Matteo; Posthuma, Niels; Bakeroot, Benoit; Decoutere, Stefaan; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Lifetime limiting degradation mechanisms of state-of-the-art UVC LEDs
2023 Zanoni, Enrico; Piva, Francesco; Buffolo, Matteo; Trivellin, Nicola; DE SANTI, Carlo; Roccato, Nicola; Pilati, Marco; Susilo, Norman; Hauer Vidal, David; Muhin, Anton; Sulmoni, Luca; Wernicke, Tim; Kneissl, Michael; Meneghesso, Gaudenzio; Meneghini, Matteo
Analysis of trapping and detrapping mechanisms in 0.15 μm-gate AlGaN/GaN High Electron Mobility Transistors: explanation of dynamic behaviour of threshold voltage and on-resistance
2023 DE PIERI, Francesco; Fornasier, Mirko; Gao, Zhan; Rampazzo, Fabiana; DE SANTI, Carlo; Meneghini, Matteo; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
InGaN/GaN Multiple Quantum Wells solar cells: a trade-off in p-GaN thickness, to optimize reliability and quantum efficiency
2023 Nicoletto, Marco; Caria, Alessandro; DE SANTI, Carlo; Buffolo, Matteo; Huang, Xuanqui; Fu, Houqiang; Chen, Hong; Zhao, Yuji; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
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