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High-Current Stress of UV-B (In)AlGaN-Based LEDs: Defect-Generation and Diffusion Processes
2019 Monti, D.; De Santi, C.; DA RUOS, Sara; Piva, Francesco; Glaab, J.; Rass, J.; Einfeldt, S.; Mehnke, F.; Enslin, J.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Evidence for avalanche generation in reverse-biased InGaN LEDs
2019 Renso, N.; De Santi, C.; Dalapati, P.; Monti, D.; Binder, M.; Galler, B.; Zeisel, R.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Challenges for highly reliable GaN-based LEDs
2019 Zanoni, E.; De Santi, C.; Trivellin, N.; Renso, N.; Buffolo, M.; Monti, D.; Caria, A.; Piva, F.; Meneghesso, G.; Meneghini, M.
Demonstration of band-to-band tunneling and avalanche regime in InGaN LEDs
2019 Renso, N.; De Santi, C.; Dalapati, P.; Monti, D.; Binder, M.; Galler, B.; Zeisel, R.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Modeling of Thermal Droop in InGaN layers and UV-A LEDs: contribution of SRH recombination and thermionic escape
2019 De Santi, C.; Meneghini, M.; Monti, D.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.
Degradation processes of 280 nm high power DUV LEDs: Impact on parasitic luminescence
2019 Trivellin, N.; Monti, D.; Piva, F.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Zanoni, E.; Meneghesso, G.; Meneghini, M.
Reliability of Ultraviolet Light-Emitting Diodes
2019 De Santi, C.; Monti, D.; Dalapati, Pradip; Meneghini, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.
Study of the reliability of GaN-based optoelectronic devices: UV-LEDs and InGaN-based laser diodes
2018 Monti, Desiree
Impact of dislocations on DLTS spectra and degradation of InGaN-based laser diodes
2018 Monti, D.; Meneghini, M.; De Santi, C.; Bojarska, A.; Perlin, P.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.
Defect-generation and diffusion in (In)AlGaN-based UV-B LEDs submitted to constant current stress
2018 Monti, D.; Meneghini, M.; De Santi, C.; DA RUOS, Silvia; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Glaab, J.; Rass, J.; Einfeldt, S.; Mehnke, F.; Enslin, J.; Wernicke, T.; Kneissl, M.
Investigation of the Thermal Droop in InGaN-based Layers and UVA LEDs
2018 De Santi, C.; Meneghini, M.; Monti, D.; Koch, H.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.
Performances and reliability analysis of 280nm High Power DUV LEDs
2018 Trivellin, N.; Monti, D.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Meneghini, M.; Zanoni, E.; Meneghesso, G.
Current induced degradation study on state of the art DUV LEDs
2018 Trivellin, N.; Monti, D.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Long-term degradation of InGaN-based laser diodes: Role of defects
2017 Monti, D.; Meneghini, M.; De Santi, C.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Bojarska, A.; Perlin, P.
Defect-Related Degradation of AlGaN-Based UV-B LEDs
2017 Monti, Desiree; Meneghini, Matteo; DE SANTI, Carlo; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Glaab, Johannes; Rass, Jens; Einfeldt, Sven; Mehnke, Frank; Enslin, Johannes; Wernicke, Tim; Kneissl, Michael
Recombination mechanisms and thermal droop in ALGaN-based UV-B LEDs
2017 DE SANTI, Carlo; Meneghini, Matteo; Monti, Desiree; Glaab, Johannes; Guttmann, Martin; Rass, Jens; Einfeldt, Sven; Mehnke, Frank; Enslin, Johannes; Wernicke, Tim; Kneissl, Michael; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
Defect-related degradation in InGaN laser diodes
2017 Monti, Desiree; Meneghini, Matteo; DE SANTI, Carlo; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Bojarska, Agata; Perlin, Piotr
Defect generation during constant current stress of InGaN laser diodes
2017 Monti, Desiree; Meneghini, Matteo; DE SANTI, Carlo; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Bojarska, Agata; Perlin, Piotr
Defect generation in deep-UV AlGaN-based LEDs investigated by electrical and spectroscopic characterisation
2017 Monti, Desiree; Meneghini, Matteo; De Santi, Carlo; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Glaab, Johannes; Rass, Jens; Einfeldt, Sven; Mehnke, Frank; Wernicke, Tim; Kneissl, Michael
Degradation of UV-A LEDs: Physical Origin and Dependence on Stress Conditions
2016 Monti, Desiree; Meneghini, Matteo; DE SANTI, Carlo; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
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