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The Photonic Atom Probe as a Tool for the Analysis of the Effect of Defects on the Luminescence of Nitride Quantum Structures
2023 Dimkou, Ioanna; Houard, Jonathan; Rochat, Névine; Dalapati, Pradip; DI RUSSO, Enrico; Cooper, David; Grenier, Adeline; Monroy, Eva; Rigutti, Lorenzo
Polarization-resolved photoluminescence study of an atom probe tip containing a ZnO-(Mg,Zn)O heterostructure
2022 Dalapati, P.; Weikum, E. M.; Beainy, G.; Di Russo, E.; Houard, J.; Moldovan, S.; Vella, A.; Chauveau, J. M.; Hugues, M.; Le Biavan, N.; Tchernycheva, M.; Julien, F. H.; Saghi, Z.; Rigutti, L.
In Situ Spectroscopic Study of the Optomechanical Properties of Evaporating Field Ion Emitters
2021 Dalapati, P.; Beainy, G.; Di Russo, E.; Blum, I.; Houard, J.; Moldovan, S.; Vella, A.; Vurpillot, F.; Le Biavan, N.; Hugues, M.; Chauveau, J. M.; Rigutti, L.
Super-resolution Optical Spectroscopy of Nanoscale Emitters within a Photonic Atom Probe
2020 Di Russo, E.; Dalapati, P.; Houard, J.; Venturi, L.; Blum, I.; Moldovan, S.; Le Biavan, N.; Lefebvre, D.; Hugues, M.; Chauveau, J. M.; Blavette, D. C.; Deconihout, B.; Vella, A.; Vurpillot, F.; Rigutti, L.
A photonic atom probe coupling 3D atomic scale analysis with in situ photoluminescence spectroscopy
2020 Houard, J.; Normand, A.; Di Russo, E.; Bacchi, C.; Dalapati, P.; Beainy, G.; Moldovan, S.; Da Costa, G.; Delaroche, F.; Vaudolon, C.; Chauveau, J. M.; Hugues, M.; Blavette, D.; Deconihout, B.; Vella, A.; Vurpillot, F.; Rigutti, L.
InGaN quantum dots studied by correlative microscopy techniques for enhanced light-emitting diodes
2020 Dimkou, I.; Di Russo, E.; Dalapati, P.; Houard, J.; Rochat, N.; Cooper, D.; Bellet-Amarlic, E.; Grenier, A.; Monroy, E.; Rigutti, L.
Evidence for avalanche generation in reverse-biased InGaN LEDs
2019 Renso, N.; De Santi, C.; Dalapati, P.; Monti, D.; Binder, M.; Galler, B.; Zeisel, R.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Demonstration of band-to-band tunneling and avalanche regime in InGaN LEDs
2019 Renso, N.; De Santi, C.; Dalapati, P.; Monti, D.; Binder, M.; Galler, B.; Zeisel, R.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Reliability of Ultraviolet Light-Emitting Diodes
2019 De Santi, C.; Monti, D.; Dalapati, Pradip; Meneghini, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.
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