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Impact of Strain on ESD Robustness of FinFET Devices
2008 Griffoni, Alessio; S., Thijs; C., Russ; D., Tremouilles; M., Scholz; D., Linten; N., Collaert; R., Rooyackers; C., Duvvury; H., Gossner; Meneghesso, Gaudenzio; G., Groeseneken
Electrostatic Discharge Effects in Irradiated Fully Depleted SOI MOSFETs with Ultra-Thin Gate Oxide
2007 Gerardin, Simone; Griffoni, Alessio; Tazzoli, Augusto; Cester, Andrea; Meneghesso, Gaudenzio; Paccagnella, Alessandro
Electrostatic Discharge Effects in Irradiated Fully Depleted SOI MOSFETs With Ultra-Thin Gate Oxide
2007 Gerardin, Simone; Griffoni, Alessio; Tazzoli, Augusto; Cester, Andrea; Meneghesso, Gaudenzio; Paccagnella, Alessandro
Electrostatic Discharge Effects in Irradiated Fully Depleted SOI MOSFETs with Ultra-Thin Gate Oxide
2007 S., Gerardin; Cester, Andrea; Tazzoli, Augusto; Griffoni, Alessio; Meneghesso, Gaudenzio; Paccagnella, Alessandro
Titolo | Data di pubblicazione | Autori | Rivista | Serie | Titolo libro |
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Impact of Strain on ESD Robustness of FinFET Devices | 2008 | GRIFFONI, ALESSIOMENEGHESSO, GAUDENZIO + | - | - | - |
Electrostatic Discharge Effects in Irradiated Fully Depleted SOI MOSFETs with Ultra-Thin Gate Oxide | 2007 | GERARDIN, SIMONEGRIFFONI, ALESSIOTAZZOLI, AUGUSTOCESTER, ANDREAMENEGHESSO, GAUDENZIOPACCAGNELLA, ALESSANDRO | IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE | - | - |
Electrostatic Discharge Effects in Irradiated Fully Depleted SOI MOSFETs With Ultra-Thin Gate Oxide | 2007 | GERARDIN, SIMONEGRIFFONI, ALESSIOTAZZOLI, AUGUSTOCESTER, ANDREAMENEGHESSO, GAUDENZIOPACCAGNELLA, ALESSANDRO | - | - | 44th IEEE - Nuclear and Space radiation Effects Conference - NSREC 2007 |
Electrostatic Discharge Effects in Irradiated Fully Depleted SOI MOSFETs with Ultra-Thin Gate Oxide | 2007 | CESTER, ANDREATAZZOLI, AUGUSTOGRIFFONI, ALESSIOMENEGHESSO, GAUDENZIOPACCAGNELLA, ALESSANDRO + | - | - | - |
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