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Titolo Data di pubblicazione Autori Rivista Serie Titolo libro
Reti di Calcolatori 2004 DALPASSO, MARCELLO - - Reti di Calcolatori
Progettazione del software e Design Pattern in Java 2004 DALPASSO, MARCELLO - - Progettazione del software e Design Pattern in Java
Virtual Simulation of Distributed IP-based Designs 2002 DALPASSO, MARCELLO + IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS - -
Hardware/Software IP protection 2002 DALPASSO, MARCELLO + - - IEEE/ACM Design Automation Conference 2000
Concetti di informatica e fondamenti di Java 2 2002 DALPASSO, MARCELLO - - Concetti di informatica e fondamenti di Java 2
An evolutionary approach to the design of on-chip pseudorandom test pattern generators 2002 DALPASSO, MARCELLO + - - IEEE/ACM Design Automation and Test in Europe Conference 2002
Bridging Fault Modeling and Simulation for Deep Submicron CMOS ICs 2002 DALPASSO, MARCELLO + IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS - -
Algoritmi e strutture dati in Java 2001 DALPASSO, MARCELLO - - Algoritmi e strutture dati in Java
Virtual Fault Simulation of distributed IP-based designs 2000 DALPASSO, MARCELLO + - - IEEE/ACM Design Automation and Test in Europe Conference 2000
Specification and validation of distributed IP-based designs with JavaCAD 1999 DALPASSO, MARCELLO + - - IEEE/ACM Design Automation and Test in Europe Conference 1999
Virtual Simulation of distributed IP-based designs 1999 DALPASSO, MARCELLO + - - IEEE/ACM Design Automation Conference 1999
A BIST Scheme for Non-Volatile Memories 1998 DALPASSO, MARCELLO + - - ON-LINE TESTING FOR VLSI
A BIST Scheme for Non-Volatile Memories 1998 DALPASSO, MARCELLO + JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING - -
A method for increasing the Iddq testability 1997 DALPASSO, MARCELLO + IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS - -
Symbolic Handling of Bridging Fault Effects 1997 DALPASSO, MARCELLO + JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING - -
Advanced Test Pattern Generation for CMOS IDDQ Testing 1996 DALPASSO, MARCELLO ALTA FREQUENZA - RIVISTA DI ELETTRONICA - -
Iddq test invalidation by break faults 1996 DALPASSO, MARCELLO + ELECTRONICS LETTERS - -
Binary Decision Diagrams (BDDs) for the Test Pattern Generation 1996 DALPASSO, MARCELLO + - - IEE International Conference on Software for Electrical Engineering Analysis and Design
Self-learning signature analysis for non-volatile memory testing 1996 DALPASSO, MARCELLO + - - IEEE International Test Conference 1996
Modeling and simulation of broken connections in CMOS IC's 1996 DALPASSO, MARCELLO + IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS - -
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