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Bias-dependent degradation of single quantum well on InGaN-based light emitting diode
2023 Casu, C.; Buffolo, M.; Caria, A.; Piva, F.; De Santi, C.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Injection-limited efficiency of InGaN LEDs and impact on electro-optical performance and ageing: a case study
2023 Casu, Claudia; Buffolo, Matteo; Caria, Alessandro; De Santi, Carlo; Zanoni, Enrico; Meneghesso, Gaudenzio; Meneghini, Matteo
III-N optoelectronic devices: understanding the physics of electro-optical degradation
2023 Meneghini, Matteo; Roccato, Nicola; Piva, Francesco; De Santi, Carlo; Buffolo, Matteo; Haller, Camille; Carlin, Jean-Francois; Grandjean, Nicolas; Tibaldi, Alberto; Bertazzi, Francesco; Goano, Michele; Verzellesi, Giovanni; Wernicke, Tim; Kneissl, Michael; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
Solid State Lighting for horticolture: impact of LED reliability on light spectrum and intensity
2023 Trivellin, Nicola; Buffolo, Matteo; Caria, Alessandro; De Santi, Carlo; Pierobon, Giulia; Fraccaroli, Riccardo; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Analysis of Current Transport Layer Localized Resistivity Increase After High Stress on InGaN LEDs
2023 Trivellin, Nicola; Buffolo, Matteo; De Santi, Carlo; Zanoni, Enrico; Meneghesso, Gaudenzio; Meneghini, Matteo
Degradation mechanisms of laser diodes for silicon photonics applications
2023 De Santi, C.; Buffolo, M.; Zenari, M.; Shang, C.; Bowers, J. E.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Dynamical properties and performances of ß-Ga2O3 UVC photodetectors of extreme solar blindness
2023 Dame, L.; Conan, L.; De Santi, C.; Caria, A.; Buffolo, M.; Meneghini, M.; Maso, P.; Dias, C.; Ghorbel, H.; Gilbert, P.; Meftah, M.; Bove, P.; Sandana, V.; Rogers, D.; Teherani, F.
InGaN/GaN Multiple Quantum Wells solar cells: a trade-off in p-GaN thickness, to optimize reliability and quantum efficiency
2023 Nicoletto, Marco; Caria, Alessandro; DE SANTI, Carlo; Buffolo, Matteo; Huang, Xuanqui; Fu, Houqiang; Chen, Hong; Zhao, Yuji; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Analysis of defect-related optical degradation of VCSILs for photonic integrated circuits
2023 Zenari, M.; Buffolo, M.; Fornasier, M.; De Santi, C.; Goyvaerts, J.; Grabowsky, A.; Gustavsson, J.; Kumari, S.; Stassren, A.; Baets, R.; Larsson, A.; Roelkens, G.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Degradation Processes and Aging in Quantum Dot Lasers on Silicon
2023 Meneghini, Matteo; Buffolo, Matteo; Zenari, Michele; DE SANTI, Carlo; Herrick, Robert W.; Shang, Chen; Wan, Yating; Feng, Kaiyin; Hughes, Eamonn; Bowers, John; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
Lifetime limiting degradation mechanisms of state-of-the-art UVC LEDs
2023 Zanoni, Enrico; Piva, Francesco; Buffolo, Matteo; Trivellin, Nicola; DE SANTI, Carlo; Roccato, Nicola; Pilati, Marco; Susilo, Norman; Hauer Vidal, David; Muhin, Anton; Sulmoni, Luca; Wernicke, Tim; Kneissl, Michael; Meneghesso, Gaudenzio; Meneghini, Matteo
On the degradation mechanisms of state-of-the-art UV-C LEDs
2023 Buffolo, Matteo; Piva, Francesco; Roccato, Nicola; DE SANTI, Carlo; Trivellin, Nicola; Pilati, Marco; Susilo, Norman; Muhin, Anton; Sulmoni, Luca; Wernicke, Tim; Kneissl, Michael; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Experimental analysis of degradation of Multi-Quantum Well GaN-based solar cells under current stress
2023 Caria, A.; De Santi, C.; Nicoletto, M.; Buffolo, M.; Huang, X.; Fu, H.; Chen, H.; Zhao, Y.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Reliability investigation on 265 nm UV-C LEDs from a commercial point of view
2023 Piva, Francesco; Buffolo, Matteo; DE SANTI, Carlo; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo; Trivellin, Nicola
GaN Vertical Devices: challenges for high performance and stability
2023 Meneghini, Matteo; Fregolent, Manuel; Zagni, Nicolò; DE SANTI, Carlo; Bahat Treidel, Eldad; Brusaterra, Enrico; Brunner, Frank; Hilt, Oliver; Christianhuber, ; Buffolo, Matteo; Marcuzzi, Alberto; Favero, Davide; Del Fiol, Andrea; Verzellesi, Giovanni; Pavan, Paolo; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
Degradation of GaN-based InGaN-GaN MQWs solar cells caused by Thermally-Activated Diffusion
2023 Nicoletto, M.; Caria, A.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Huang, X.; Fu, H.; Chen, H.; Zhao, Y.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Modeling of the Optical and Electrical Degradation of 845 nm VCSILs
2023 Buffolo, M.; Zenari, M.; Fornasier, M.; De Santi, C.; Goyvaerts, J.; Grabowski, A.; Gustavsson, J.; Kumari, S.; Stassen, A.; Morthier, Geert; Baets, R.; Larsson, A.; Roelkens, G.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Degradation of AlGaN-based SQW UV-C LEDs investigated by capacitance deep level transient spectroscopy
2023 Piva, F.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Pilati, M.; Roccato, N.; Muhin, A.; Susilo, N.; Vidal, D. H.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Impact of high-temperature operating lifetime tests on the stability of 0.15 μm AlGaN/GaN HEMTs: a temperature-dependent analysis
2023 Pilati, M.; Buffolo, M.; Rampazzo, F.; Lambert, B.; Sommer, D.; Grünenpütt, J.; De Santi, C.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Optically Induced Degradation Due to Thermally Activated Diffusion in GaN-Based InGaN/GaN MQW Solar Cells
2023 Nicoletto, Marco; Caria, Alessandro; Santi, Carlo De; Buffolo, Matteo; Huang, Xuanqui; Fu, Houqiang; Chen, Hong; Zhao, Yuji; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
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