NEVIANI, ANDREA
NEVIANI, ANDREA
Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione - DEI
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Hot-electron-induced light emission and impact ionization in GaAs-based devices
1993 Carlo, Tedesco; C., Canali; M., Manfredi; Neviani, Andrea; Zanoni, Enrico
Reliability issues due to hot-electron effects in GaAs-based MESFETs and HEMTs
1994 Zanoni, Enrico; C., Tedesco; Neviani, Andrea; Meneghesso, Gaudenzio
Titolo | Data di pubblicazione | Autori | Rivista | Serie | Titolo libro |
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Hot-electron-induced light emission and impact ionization in GaAs-based devices | 1993 | NEVIANI, ANDREAZANONI, ENRICO + | - | - | Physical concepts and materials for novel optoelectronic device applications II |
Reliability issues due to hot-electron effects in GaAs-based MESFETs and HEMTs | 1994 | ZANONI, ENRICONEVIANI, ANDREAMENEGHESSO, GAUDENZIO + | - | - | Symposium on the Degradation of Electronic Devices Due to Device Operation as Well as Crystalline and Process-Induced Defects |