MENEGHINI, MATTEO
MENEGHINI, MATTEO
Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione - DEI
"Electrical Properties, Reliability Issues, and ESD Robustness of InGaN-Based LEDs" in III-Nitride Based Light Emitting Diodes and Applications
2013 Meneghini, Matteo; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
Chip-Level Degradation of InGaN-Based Optoelectronic Devices
2017 De Santi, C.; Meneghini, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.
Degradation mechanisms of InGaN visible LEDs and AlGaN UV LEDs
2021 De Santi, C.; Caria, A.; Piva, F.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Electrical properties, reliability issues, and ESD robustness of InGaN-based LEDs
2017 Meneghini, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.
ESD Sensitivity of GaN-Based Electronic Devices
2015 Meneghesso, Gaudenzio; Meneghini, Matteo; Zanoni, Enrico
GaN-Based Lateral and Vertical Devices
2023 Meneghini, M.; Chowdhury, S.; Derluyn, J.; Medjdoub, F.; Ji, D.; Chun, J.; Kabouche, R.; De Santi, C.; Zanoni, E.; Meneghesso, G.
Performance-Limiting Traps in GaN-Based HEMTs: From Native Defects to Common Impurities
2016 Rossetto, I.; Bisi, D.; De Santi, C.; Stocco, A.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Physical mechanisms limiting the performance and the reliability of GaN-based LEDs
2018 De Santi, C.; Meneghini, M.; Tibaldi, A.; Vallone, M.; Goano, M.; Bertazzi, F.; Verzellesi, G.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.
Recent results on the physical origin of the degradation of GaN-based LEDs and lasers
2011 Meneghini, Matteo; Trivellin, Nicola; Meneghesso, Gaudenzio; K., Orita; S., Takigawa; T., Tanaka; D., Ueda; Zanoni, Enrico
Reliability of GaN-Based Power Devices
2018 Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.; Ruzzarin, M.; Rossetto, I.
Reliability of Ultraviolet Light-Emitting Diodes
2019 De Santi, C.; Monti, D.; Dalapati, Pradip; Meneghini, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.
Trapping and Degradation Mechanisms in GaN-Based HEMTs
2015 Meneghini, Matteo; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico