LONGATO, SIMONE LEONARDO
LONGATO, SIMONE LEONARDO
Università di Padova
GaN Devices: Technology, Reliability-Limiting Processes and ESD Failures
2025 Meneghini, M.; Longato, S.; Fregolent, M.; Fraccaroli, R.; Rossetto, I.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.
Impact of drain-source leakage on the dynamic Ron of power HEMTs with p-GaN gate
2025 Longato, S. L.; Favero, D.; Stockman, A.; Nardo, A.; Vanmeerbeek, P.; Tack, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; De Santi, C.; Meneghini, M.
Spectral components, initial improvement, and degradation of 265 nm UV-C LEDs
2025 De Santi, Carlo; Piva, Francesco; Buffolo, Matteo; Roccato, Nicola; Pilati, Marco; Longato, Simone; Susilo, Norman; Hauer Vidal, Daniel; Muhin, Anton; Sulmoni, Luca; Wernicke, Tim; Kneissl, Michael; Trivellin, Nicola; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
TLP effects on normally-off p-GaN gate power HEMTs with Schottky gate
2025 De Santi, C.; Longato, S. L.; Rossetto, I.; Buffolo, M.; Rampazzo, F.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Vth and Ron Instability of GaN Power HEMTs with pGaN Gate Under Negative Gate Bias
2025 Longato, S. L.; Favero, D.; Stockman, A.; Nardo, A.; Vanmeerbeek, P.; Tack, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; De Santi, C.; Meneghini, M.
Ageing effects on optical power characteristics and defects in SQW UV-C LEDs
2024 Piva, F.; Buffolo, M.; Pilati, M.; Roccato, N.; Longato, S.; Susilo, N.; Hauer Vidal, D.; Muhin, A.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; De Santi, C.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Dynamic phenomena in 650V p-GaN technology
2024 Stockman, A.; Nardo, A.; Vanmeerbeek, P.; Tack, M.; Favero, D.; Longato, S.; De Santi, C.; Meneghini, M.
Investigation of degradation dynamics of 265 nm LEDs assisted by EL measurements and numerical simulations
2024 Piva, Francesco; Buffolo, Matteo; Roccato, Nicola; Pilati, Marco; Longato, Simone; Susilo, Norman; Vidal, Daniel Hauer; Muhin, Anton; Sulmoni, Luca; Wernicke, Tim; Kneissl, Michael; Santi, Carlo De; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo