Riassunto presentato al Convegno Nazionale AIAr, " INNOVAZIONI TECNOLOGICHE PER I BENI CULTURALI IN ITALIA", Caserta, 16-18 febbraio 2005
Potenzialità dell'indagine XRF nella diagnostica di opere pittoriche ad affresco
MOLIN, GIANMARIO;PASQUAL, DARIA;
2005
Abstract
Riassunto presentato al Convegno Nazionale AIAr, " INNOVAZIONI TECNOLOGICHE PER I BENI CULTURALI IN ITALIA", Caserta, 16-18 febbraio 2005File in questo prodotto:
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