Neutron-induced soft errors in advanced Flash memories

GERARDIN, SIMONE;BAGATIN, MARTA;PACCAGNELLA, ALESSANDRO;
2008
2008
IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Tech. Digest 2008
WOS:000265829300081
2-s2.0-64549090985
04.01 - Contributo in atti di convegno
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