In questa memoria vengono descritte la realizzazione e la caratterizzazione di un sistema per l’analisi in campo vicino delle emissioni irradiate da schede elettroniche. Le caratteristiche del sistema sono tali da consentire l’analisi dell’emissione elettromagnetica di un circuito stampato in modo ripetibile e al variare di caratteristiche come il layout o il posizionamento dei componenti circuitali. Il sistema diviene quindi strumento efficace per la progettazione elettronica e l’analisi pre-compliance.
Sistema per la misura in campo vicino delle emissioni irradiate da schede elettroniche
BERTOCCO, MATTEO;SONA, ALESSANDRO;
2005
Abstract
In questa memoria vengono descritte la realizzazione e la caratterizzazione di un sistema per l’analisi in campo vicino delle emissioni irradiate da schede elettroniche. Le caratteristiche del sistema sono tali da consentire l’analisi dell’emissione elettromagnetica di un circuito stampato in modo ripetibile e al variare di caratteristiche come il layout o il posizionamento dei componenti circuitali. Il sistema diviene quindi strumento efficace per la progettazione elettronica e l’analisi pre-compliance.File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
