The paper is a tutorial on the basic concepts of semiconductor device reliability, with particular emphasis on accelerated testing procedures, definition of reliability, calculation of failure rates etc.

L'affidabilità dei dispositivi a semiconduttore

ZANONI, ENRICO
1983

Abstract

The paper is a tutorial on the basic concepts of semiconductor device reliability, with particular emphasis on accelerated testing procedures, definition of reliability, calculation of failure rates etc.
1983
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