This paper contains a tutorial on optical techniques for the characterization and failure analysis of electron devices and integrated circuits
Tecniche IR e scanning laser
ZANONI, ENRICO
1987
Abstract
This paper contains a tutorial on optical techniques for the characterization and failure analysis of electron devices and integrated circuitsFile in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.