This is a tutorial paper concenring the use of infrared tehrmography, spectroscopy and microscopy for the characterization and failure analysis of electron devices and circuits
Tecniche di analisi di guasto basate sulla microscopia ad infrarossi
ZANONI, ENRICO;
1991
Abstract
This is a tutorial paper concenring the use of infrared tehrmography, spectroscopy and microscopy for the characterization and failure analysis of electron devices and circuitsFile in questo prodotto:
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