Lo studio delle caratteristiche della radiazione emessa da "elettroni caldi" in dispositivi su semiconduttori composti rappresenta una potente metodologia per la valutazione di materiali e dispositivi
Caratterizzazione di MESFET ed HEMT mediante analisi di elettroni caldi
PACCAGNELLA, ALESSANDRO;ZANONI, ENRICO
1990
Abstract
Lo studio delle caratteristiche della radiazione emessa da "elettroni caldi" in dispositivi su semiconduttori composti rappresenta una potente metodologia per la valutazione di materiali e dispositiviFile in questo prodotto:
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