EXAFS: A powerful tool for assessing dopant geometry and environment in semiconductors obtained via miniemulsion

DOLCET, PAOLO;MAURIZIO, CHIARA;CASARIN, MAURIZIO;GROSS, SILVIA
2013

2013
-
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11577/3021763
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact