Physical effects limiting performance and reliability of GaN High Electron Mobility Transistors

ZANONI, ENRICO;MENEGHESSO, GAUDENZIO;MENEGHINI, MATTEO;BISI, DAVIDE;DE SANTI, CARLO;RAMPAZZO, FABIANA;ROSSETTO, ISABELLA;STOCCO, ANTONIO;
2014

2014
Proc. of 2014 International Conference on Solid State Devices and Materials SSDM-2014
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