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Titolo Data di pubblicazione Autori Rivista Serie Titolo libro
24 Hours Stress Test and Failure Analysis of 0.25 μm AlGaN/GaN HEMTs 2018 M. RzinF. RampazzoM. MeneghiniG. MeneghessoE. Zanoni + - - Proceedings of the 9th Wide Bandgap Semiconductor and Components workshop
A comprehensive reliability evaluation of high-performance AlGaN/GaN HEMTs for space applications 2016 DE SANTI, CARLODALCANALE, STEFANOSTOCCO, ANTONIORAMPAZZO, FABIANAGERARDIN, SIMONEMENEGHINI, MATTEOMENEGHESSO, GAUDENZIOZANONI, ENRICO + - - proc. of the 8th Wide Bandgap Semiconductors and Components Workshop
A Distributed Electrical Network to Model the Local Shunting in Multicrystalline Silicon Solar Cells 2012 MAGNONE, PAOLOBARBATO, MARCOMENEGHINI, MATTEOGILIBERTO, VALENTINAMENEGHESSO, GAUDENZIO + - - 27th European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition, EU PVSEC 2012
A Generalized Approach to Determine the Switching Reliability of GaN HEMTs on-Wafer Level 2021 Modolo N.Minetto A.De Santi C.Meneghesso G.Zanoni E.Meneghini M. + - IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM PROCEEDINGS IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings
A novel degradation mechanism of AlGaN/GaN/Silicon heterostructures related to the generation of interface traps 2012 MENEGHINI, MATTEOBERTIN, MARCOSTOCCO, ANTONIOMENEGHESSO, GAUDENZIOZANONI, ENRICO + - - IEDM 2012, IEEE International Electron Devices Meeting
A novel high voltage and high speed measurement system for dynamic RON measurements in GaN‐based high mobility transistors (HEMTs) 2016 BARBATO, ALESSANDROROSSETTO, ISABELLABARBATO, MARCOMENEGHINI, MATTEOZANONI, ENRICOMENEGHESSO, GAUDENZIO - - Proc. of 40th WOCSDICE ‐ Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits held in Europe
A Novel System to Measure the Dynamic On‑Resistance of On‑Wafer 600 V Normally-Off GaN HEMTs in Real Application Conditions 2017 Alessandro BarbatoM. BarbatoM. MeneghiniM. SilvestriG. MeneghessoE. Zanoni + - - Proceedings of the 41th WOCSDICE - Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits 2017
A review of failure modes and mechanisms of GaN-based HEMT's 2007 ZANONI, ENRICOMENEGHESSO, GAUDENZIODANESIN, FRANCESCAMENEGHINI, MATTEORAMPAZZO, FABIANATAZZOLI, AUGUSTOZANON, FRANCO + - - -
A Review of SiC Commercial Devices for Automotive: Properties and Challenges 2023 Alberto MarcuzziDavide FaveroCarlo De SantiGaudenzio MeneghessoEnrico ZanoniMatteo Meneghini - - Proceedings of the 7th AEIT International Conference of Electrical and Electronic Technologies for Automotive (AEIT AUTOMOTIVE 2023)
A Review on the Reliability of GaN-based Laser Diodes 2010 TRIVELLIN, NICOLAMENEGHINI, MATTEOZANONI, ENRICOMENEGHESSO, GAUDENZIO + - - IRPS2010, International Reliability Physics Symposium
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Tipologia
  • 04 CONTRIBUTO IN ATTO DI CONVEGNO 428
  • 04 CONTRIBUTO IN ATTO DI CONVEGNO... 428
Autore
  • MENEGHESSO, GAUDENZIO 410
  • ZANONI, ENRICO 398
  • DE SANTI, CARLO 202
  • TRIVELLIN, NICOLA 91
  • BUFFOLO, MATTEO 83
  • RAMPAZZO, FABIANA 52
  • STOCCO, ANTONIO 40
  • CARIA, ALESSANDRO 32
  • ROSSETTO, ISABELLA 30
  • BISI, DAVIDE 26
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 112
  • 2010 - 2019 266
  • 2004 - 2009 50
Editore
  • Institute of Electrical and Elect... 35
  • SPIE 35
  • SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING 18
  • IEEE 16
  • IEEE Institute of Electrical and ... 4
  • IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 3
  • IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 3
  • IEEE / Institute of Electrical an... 2
  • IEEE Computer Society 2
  • Optica publishing group 2
Rivista
  • PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNAT... 10
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 5
  • PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID... 4
  • AIP CONFERENCE PROCEEDINGS 2
  • IEEE MTT-S INTERNATIONAL MICROWAV... 1
  • PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL ... 1
Serie
  • PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNAT... 33
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 19
  • TECHNICAL DIGEST - INTERNATIONAL ... 4
  • PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL ... 2
  • PROCEEDINGS OF THE ... INTERNATIO... 1
Keyword
  • degradation 93
  • reliability 90
  • Gallium Nitride 70
  • HEMT 58
  • light emitting diodes 52
  • InGaN 41
  • Electrical and Electronic Enginee... 20
  • Reliability 20
  • GaN 17
  • Electronic 14
Lingua
  • eng 419
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Accesso al fulltext
  • no fulltext 427
  • open 1