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Titolo Data di pubblicazione Autori Rivista Serie Titolo libro
"Electrical Properties, Reliability Issues, and ESD Robustness of InGaN-Based LEDs" in III-Nitride Based Light Emitting Diodes and Applications 2013 MENEGHINI, MATTEOMENEGHESSO, GAUDENZIOZANONI, ENRICO - - Topics in Applied Physics III-Nitride Based Light Emitting Diodes and Applications
"Hot-plugging" of LED modules: Electrical characterization and device degradation 2013 DAL LAGO, MATTEOMENEGHINI, MATTEOTRIVELLIN, NICOLAMENEGHESSO, GAUDENZIOZANONI, ENRICO + MICROELECTRONICS RELIABILITY - -
'Hole Redistribution' Model Explaining the Thermally Activated RONStress/Recovery Transients in Carbon-Doped AlGaN/GaN Power MIS-HEMTs 2021 Meneghini M.Meneghesso G.Zanoni E. + IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES - -
2.1 A/mm current density AlGaN/GaN HEMT 2003 CHINI, ALESSANDROMENEGHESSO, GAUDENZIOZANONI, ENRICOBUTTARI, DARIO + ELECTRONICS LETTERS - -
2014 44th European Solid State Device Research Conference (ESSDERC) 2014 MENEGHESSO, GAUDENZIO + - PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID STATE DEVICE RESEARCH CONFERENCE 2014 44th European Solid State Device Research Conference (ESSDERC)
24 Hours Stress Test and Failure Analysis of 0.25 μm AlGaN/GaN HEMTs 2018 M. RzinF. RampazzoM. MeneghiniG. MeneghessoE. Zanoni + - - Proceedings of the 9th Wide Bandgap Semiconductor and Components workshop
2DEG Retraction and Potential Distribution of GaN-on-Si HEMTs Investigated Through a Floating Gate Terminal 2018 Rossetto, I.Meneghini, M.De Santi, C.PANDEY, SUDIPMeneghesso, G.Zanoni, E. + IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES - -
46th Workshop on Compound Semiconductor Materials and Devices (WOCSEMMAD 2010) Conference Report 2010 MENEGHESSO, GAUDENZIO + - - WOCSDICE 2010 34rd Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits,
A combined electro-optical method for the determination of the recombination parameters in InGaN-based light-emitting diodes 2009 MENEGHINI, MATTEOTRIVELLIN, NICOLAMENEGHESSO, GAUDENZIOZANONI, ENRICO + JOURNAL OF APPLIED PHYSICS - -
A Combined Mechanical and Electrical Characterization Procedure for Investigating the Dynamic Behavior of RF-MEMS Switches 2014 BARBATO, MARCOGILIBERTO, VALENTINACESTER, ANDREAMENEGHESSO, GAUDENZIO IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY - -
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Tipologia
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  • 03 LIBRO::03.01 - Monografia o tr... 1
  • 06 CURATELA 1
  • 06 CURATELA::06.01 - Curatela 1
Autore
  • ZANONI, ENRICO 968
  • MENEGHINI, MATTEO 771
  • DE SANTI, CARLO 373
  • BUFFOLO, MATTEO 157
  • TRIVELLIN, NICOLA 147
  • RAMPAZZO, FABIANA 120
  • TAZZOLI, AUGUSTO 96
  • CESTER, ANDREA 72
  • STOCCO, ANTONIO 70
  • BARBATO, MARCO 64
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2024 244
  • 2010 - 2019 623
  • 2000 - 2009 285
  • 1992 - 1999 71
Editore
  • Institute of Electrical and Elect... 83
  • Elsevier Ltd 64
  • SPIE 33
  • IEEE / Institute of Electrical an... 31
  • IEEE 29
  • IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 27
  • IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 21
  • Elsevier 20
  • SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING 18
  • ELSEVIER 17
Rivista
  • MICROELECTRONICS RELIABILITY 149
  • IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEV... 77
  • IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS 35
  • APPLIED PHYSICS LETTERS 29
  • IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND M... 22
  • JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 15
  • PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNAT... 10
  • JOURNAL OF PHYSICS D. APPLIED PHY... 9
  • MATERIALS 9
  • IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE 8
Serie
  • PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNAT... 32
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 20
  • TECHNICAL DIGEST - INTERNATIONAL ... 4
  • PROCEEDINGS OF THE ... INTERNATIO... 1
  • PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID... 1
  • PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL ... 1
Keyword
  • reliability 274
  • HEMT 257
  • degradation 236
  • Gallium Nitride 221
  • light emitting diodes 92
  • InGaN 91
  • GaN 87
  • Charge Trapping 85
  • Reliability 74
  • Electrical and Electronic Enginee... 64
Lingua
  • eng 1188
  • ita 12
  • jpn 1
Accesso al fulltext
  • no fulltext 1205
  • open 17
  • reserved 1