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NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.
"Electrical Properties, Reliability Issues, and ESD Robustness of InGaN-Based LEDs" in III-Nitride Based Light Emitting Diodes and Applications
2013 Meneghini, Matteo; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
"Hot-plugging" of LED modules: Electrical characterization and device degradation
2013 DAL LAGO, Matteo; Meneghini, Matteo; Trivellin, Nicola; G., Mura; M., Vanzi; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
'Hole Redistribution' Model Explaining the Thermally Activated RONStress/Recovery Transients in Carbon-Doped AlGaN/GaN Power MIS-HEMTs
2021 Zagni, N.; Chini, A.; Puglisi, F. M.; Meneghini, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Pavan, P.; Verzellesi, G.
2.1 A/mm current density AlGaN/GaN HEMT
2003 Chini, Alessandro; Coffie, R.; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Buttari, Dario; Heikman, S.; Keller, S.; Mishra, U. K.
2014 44th European Solid State Device Research Conference (ESSDERC)
2014 Roberto, Bez; Paolo, Pavan; Meneghesso, Gaudenzio
24 Hours Stress Test and Failure Analysis of 0.25 μm AlGaN/GaN HEMTs
2018 Rzin, M.; Rampazzo, F.; Meneghini, M.; Grünenpütt, J.; Jung, H.; Lambert, B.; Riepe, K.; Blanck, H.; Graff, A.; Altmann, F.; Simon-Najasek, M.; Poppitz, D.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.
2DEG Retraction and Potential Distribution of GaN-on-Si HEMTs Investigated Through a Floating Gate Terminal
2018 Rossetto, I.; Meneghini, M.; De Santi, C.; Pandey, Sudip; Gajda, M.; Hurkx, G. A. M.; Croon, J.; Šonský, J.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.
46th Workshop on Compound Semiconductor Materials and Devices (WOCSEMMAD 2010) Conference Report
2010 Meneghesso, Gaudenzio; D., Theron
A combined electro-optical method for the determination of the recombination parameters in InGaN-based light-emitting diodes
2009 Meneghini, Matteo; Trivellin, Nicola; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; U., Zehnder; B., Hahn
A Combined Mechanical and Electrical Characterization Procedure for Investigating the Dynamic Behavior of RF-MEMS Switches
2014 Barbato, Marco; Giliberto, Valentina; Cester, Andrea; Meneghesso, Gaudenzio
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- 2010 - 2019 623
- 2000 - 2009 285
- 1992 - 1999 71
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