Analysis of ESD effects on organic thin-film-transistors by means of TLP technique

WRACHIEN, NICOLA;BARBATO, MARCO;CESTER, ANDREA;RIZZO, ANTONIO;MENEGHESSO, GAUDENZIO;
2016
2016
IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings
WOS:000387121900104
2-s2.0-84990892347
9781467391368
978-1-4673-9136-8
04.01 - Contributo in atti di convegno
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