Quality and reliability of in-situ Al2O3 MOS capacitors for GaN-based power devices

BISI, DAVIDE;MENEGHINI, MATTEO;MENEGHESSO, GAUDENZIO;ZANONI, ENRICO;
2016

2016
Proceedings of the 28th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD)
978-1-4673-8770-5
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