A comprehensive reliability evaluation of high-performance AlGaN/GaN HEMTs for space applications

DE SANTI, CARLO;DALCANALE, STEFANO;STOCCO, ANTONIO;RAMPAZZO, FABIANA;GERARDIN, SIMONE;MENEGHINI, MATTEO;MENEGHESSO, GAUDENZIO;ZANONI, ENRICO
2016
2016
proc. of the 8th Wide Bandgap Semiconductors and Components Workshop
04.01 - Contributo in atti di convegno
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