Characterization of Defects in AlGaN/GaN HEMTs Based on Nonlinear Microwave Current Transient Spectroscopy
MENEGHINI, MATTEO;MENEGHESSO, GAUDENZIO;ZANONI, ENRICO;
2017
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.