Defect-related degradation of III-V/Silicon 1.55 μm DBR laser diodes

Buffolo, Matteo;Meneghini, Matteo;De Santi, Carlo;Trivellin, Nicola;Meneghesso, Gaudenzio;Zanoni, Enrico
2018

2018
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
9781510615595
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