Hot-Electron Trapping and Hole-Induced Detrapping in GaN-Based GITs and HD-GITs
FABRIS, ELENA;Meneghini, Matteo;De Santi, Carlo;Borga, Matteo;Meneghesso, Gaudenzio;Zanoni, Enrico
2019
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.