The Effect of Proton Irradiation in Suppressing Current Collapse in AlGaN/GaN High-Electron-Mobility Transistors

Tajalli, A.;Meneghini, M.;Gerardin, S.;Bagatin, M.;Paccagnella, A.;Meneghesso, G.;Zanoni, E.;
2019

File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11577/3288895
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 19
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 18
social impact