Impact of the substrate and buffer design on the performance of GaN on Si power HEMTs

Borga, M.;Meneghini, M.;Stoffels, S.;Zanoni, E.;Meneghesso, G.
2018
2018
MICROELECTRONICS RELIABILITY
WOS:000448227000109
2-s2.0-85049516508
01.01 - Articolo in rivista
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