Evidence for recombination-induced degradation processes in InGaN-based optoelectronic devices

C. De Santi;M. Meneghini;CARIA, ALESSANDRO;N. Renso;MEDJDOUB, FARID;E. Zanoni;G. Meneghesso
2018
2018
Proceedings of the Compound Semiconductor Week 2018
04.01 - Contributo in atti di convegno
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