High-Current Stress of UV-B (In)AlGaN-Based LEDs: Defect-Generation and Diffusion Processes

Monti D.;De Santi C.;DA RUOS, SARA;PIVA, FRANCESCO;Meneghesso G.;Zanoni E.;Meneghini M.
2019
2019
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
WOS:000477697400022
2-s2.0-85069899059
01.01 - Articolo in rivista
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