Test-set generation for AI-augmented measurement systems

Giorgi G.
Writing – Original Draft Preparation
;Narduzzi C.
Supervision
;Bertocco M.
Supervision
2025
2025
Proceedings IEEE I2MTC 2025
IEEE Instrumentation and Measurement Conference
2-s2.0-105012160304
04.01 - Contributo in atti di convegno
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