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On the resolution of semiconductor multilayers with a scanning electron microscope
1995 P. G., Merli; A., Migliori; M., Nacucchi; D., Govoni; Mattei, Giovanni
Tem and Rbs Study of Strained Ingaas Gaas Single Heterostructures Grown By Mbe
1990 G., Salviati; C., Ferrari; Drigo, Antonio; Carnera, Alberto; F., Genova
Titolo | Data di pubblicazione | Autori | Rivista | Serie | Titolo libro |
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On the resolution of semiconductor multilayers with a scanning electron microscope | 1995 | MATTEI, GIOVANNI + | ULTRAMICROSCOPY | - | - |
Tem and Rbs Study of Strained Ingaas Gaas Single Heterostructures Grown By Mbe | 1990 | DRIGO, ANTONIOCARNERA, ALBERTO + | ULTRAMICROSCOPY | - | - |
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