This paper summarizes results of accelerated testing on Emitter Coupled Logic bipolar integrated circuits. Electromigration effects on AlCuSi metallization and contacts are analyzed in detail

Elettromigrazione in dispositivi Emitter Coupled Logic con metallizzazioni in Al-Cu-Si

ZANONI, ENRICO
1983

Abstract

This paper summarizes results of accelerated testing on Emitter Coupled Logic bipolar integrated circuits. Electromigration effects on AlCuSi metallization and contacts are analyzed in detail
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