ZANONI, ENRICO
ZANONI, ENRICO
Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione - DEI
Changes in the extraction and collection efficiency of GaN-based MQW solar cells under optical step-stress
2025 Nicoletto, M.; Bertin, S.; Caria, A.; Roccato, N.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Evidence for double degradation regime in off-state stressed 100 V GaN transistors: From dielectric failure to subthreshold current increase
2025 Fraccaroli, R.; Fregolent, M.; Boito, M.; De Santi, C.; Canato, E.; Rossetto, I.; Castagna, M. E.; Miccoli, C.; Russo, A.; Iucolano, F.; Pirani, A.; Pizzo, G.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Hail Damage Investigation in Heterojunction Silicon Photovoltaic Modules: A Real-World Case Study
2025 Nicoletto, M.; Panizzon, D.; Caria, A.; Trivellin, N.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Impact of drain-source leakage on the dynamic Ron of power HEMTs with p-GaN gate
2025 Longato, S. L.; Favero, D.; Stockman, A.; Nardo, A.; Vanmeerbeek, P.; Tack, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; De Santi, C.; Meneghini, M.
Interface-related VTH shift of SiC MOSFETs during constant current stress extracted from charge pumping measurements
2025 Marcuzzi, A.; Avramenko, M.; De Santi, C.; Moens, P.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Investigating the optical degradation of InAs quantum dot lasers on silicon through combined electro-optical characterization and gain measurements
2025 Zenari, M.; Novarese, M.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Norman, J.; Hughes, E. T.; Bowers, J. E.; Herrick, R. W.; Gioannini, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Long-term (8000 h) reliability and failures of high-power LEDs for outdoor lighting stressed at high ambient temperatures
2025 Caria, A.; Fraccaroli, R.; Pierobon, G.; Castellaro, T.; Huang, A.; Magnien, J.; Rosc, J.; Lipák, G.; Hantos, G.; Hegedüs, J.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Trivellin, N.; Zanoni, E.; Poppe, A.; Meneghesso, G.; Meneghini, M.
OFF-state breakdown and threshold voltage stability of vertical GaN-on-Si trench MOSFETs
2025 Fregolent, M.; Bergamin, F.; Favero, D.; De Santi, C.; Cester, A.; Huber, C.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Recoverable degradation of FAPbBr3 perovskite solar cells under reverse-bias: A combined electro-optical investigation
2025 Tormena, N.; Caria, A.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Cester, A.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Matteocci, F.; Di Carlo, A.; Trivellin, N.; Meneghini, M.
Self-Induced Photoionization of Traps in Buffer-Free AlGaN/GaN HEMTs
2025 De Pieri, F.; Fornasier, M.; Gao, Z.; Fregolent, M.; De Santi, C.; Rampazzo, F.; Putcha, V.; Riet, E. V. D.; Hartskeerl, D.; Meneghesso, G.; Meneghini, M.; Zanoni, E.
Solid State Lighting Systems for horticulture: Impact of LED degradation on light spectrum and intensity
2025 Trivellin, N.; De Santi, C.; Meneghesso, G.; Buffolo, M.; Pierobon, G.; Zanoni, E.; Caria, A.; Fraccaroli, R.; Meneghini, M.
Advanced defect spectroscopy in wide-bandgap semiconductors: review and recent results
2024 Fregolent, Manuel; Piva, Francesco; Buffolo, Matteo; Santi, Carlo De; Cester, Andrea; Higashiwaki, Masataka; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Ageing effects on optical power characteristics and defects in SQW UV-C LEDs
2024 Piva, F.; Buffolo, M.; Pilati, M.; Roccato, N.; Longato, S.; Susilo, N.; Hauer Vidal, D.; Muhin, A.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; De Santi, C.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
ANALYSIS OF REVERSE-BIAS STABILITY OF FAPbBr3 SEMI-TRANSPARENT PEROVSKITE SOLAR CELLS
2024 Tormena, Noah; Caria, Alessandro; Buffolo, Matteo; DE SANTI, Carlo; Trivellin, Nicola; Cester, Andrea; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Matteocci, Fabio; Di Carlo, Aldo; Meneghini, Matteo
Antimony selenide solar cells: non-ideal deep level response and study of trap-filling transients
2024 De Santi, Carlo; Barrantes, Jessica Jazmine Nicole; Piva, Francesco; Caria, Alessandro; Buffolo, Matteo; Trivellin, Nicola; Rampino, Stefano; Spaggiari, Giulia; Jakomin, Roberto; Pattini, Francesco; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Catastrophic degradation of LEDs: failure analysis and perspective
2024 Trivellin, N.; Caria, A.; Huang, A.; Piva, F.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Magnien, J.; Rosc, J.; Mura, G.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Charge Trapping in SiC MOSFETs under Constant Gate Current Stress: Analysis Based on Charge Pumping Measurements
2024 Marcuzzi, A.; Avramenko, M.; De Santi, C.; Moens, P.; Geenen, F.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Deep Level Effects in N-Polar AlGaN/GaN High Electron Mobility Transistors: Toward Zero Dispersion Effects
2024 Saro, Marco; de Pieri, Francesco; Carlotto, Andrea; Fornasier, Mirko; Rampazzo, Fabiana; De Santi, Carlo; Meneghesso, Gaudenzio; Meneghini, Matteo; Zanoni, Enrico; Bisi, Davide; Guidry, Matthew; Keller, Stacia; Mishra, Umesh
Defects, performance, and reliability in UVC LEDs
2024 Meneghini, Matteo; Roccato, Nicola; Piva, Francesco; Pilati, Marco; De Santi, Carlo; Buffolo, Matteo; Susilo, Norman; Hauer Vidal, David; Muhin, Anton; Sulmoni, Luca; Ruschel, Jan; Glaab, Johannes; Rass, Jens; Einfeldt, Sven; Wernicke, Tim; Kneissl, Michael; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
Degradation Mechanisms in High-Power LEDs: Thermal Analysis of Failure Modes
2024 Trivellin, Nicola; Caria, Alessandro; Fraccaroli, Riccardo; Pierobon, Giulia; Castellaro, Tomas; Huang, Ambrogio; Magnien, Julien; Rosc, Joerdis; Lipak, Gyula; Hantos, Gusztáv; Hegedus, Jozsef; DE SANTI, Carlo; Buffolo, Matteo; Zanoni, Enrico; Poppe, Andras; Meneghesso, Gaudenzio; Meneghini, Matteo