ZANONI, ENRICO

ZANONI, ENRICO  

Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione - DEI  

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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) Rivista Serie Titolo libro
Failures in Schottky logics induced by intermetallic compound formation in PtSi-Ti/W-Al metal system 1981 ZANONI, ENRICO + - - 6th Symposium on Solid State Device Technology SSSDT 81
"Reliability of PtSi-Ti/W-Al Metallization System used in Bipolar Logics"19th International Reliability Physics Symposium 1981 ZANONI, ENRICO + - - 19th International Reliability Physics Symposium
Interdiffusion and compound formation in the cSi/PtSi/(TiW)/Al system 1982 ZANONI, ENRICO + THIN SOLID FILMS - -
Bipolar Schottky logic device failure modes due to contact metallurgical degradation 1982 ZANONI, ENRICO + MICROELECTRONICS RELIABILITY - -
Electrical degradation of n-Si/PtSi/(Ti-W)/Al Schottky contacts induced by thermal treatments 1982 ZANONI, ENRICO + THIN SOLID FILMS - -
Failure modes induced in TTL-LS bipolar logics by negative inputs 1982 ZANONI, ENRICO + ALTA FREQUENZA - -
Crystal defects induced during Ti:LiNbO3 optical waveguide fabrication 1983 ZANONI, ENRICO + ULTRAMICROSCOPY - -
Fabrication and characteristics of optical waveguides on LiNbO3 1983 ZANONI, ENRICO + MATERIALS CHEMISTRY AND PHYSICS - -
Elettromigrazione in dispositivi Emitter Coupled Logic con metallizzazioni in Al-Cu-Si 1983 ZANONI, ENRICO + - - -
Integrazione ottica 1983 ZANONI, ENRICO + - - Atti del VI corso del Seminario Scientifico Tecnico di Lecce
La fisica dei meccanismi di guasto nella microelettronica 1983 ZANONI, ENRICO + FISICA E TECNOLOGIA - -
Failure mechanisms induced by electromigration in advanced ECL ICs 1983 ZANONI, ENRICO + - - Proceedings of the European Solid State Device Research Conference
L'affidabilità dei dispositivi a semiconduttore 1983 ZANONI, ENRICO + FISICA E TECNOLOGIA - -
Power GaAs MESFET: Reliability aspects and failure mechanisms 1984 ZANONI, ENRICO + MICROELECTRONICS RELIABILITY - -
Failures induced by electromigration in ECL 100k devices 1984 ZANONI, ENRICO + MICROELECTRONICS RELIABILITY - -
Observation of latch-up phenomena in CMOS IC's by means of Digital Differential Voltage Contrast 1984 ZANONI, ENRICO + - - -
Applicazioni della spettrometria Auger all'analisi guasto di MESFET al GaAs 1984 ZANONI, ENRICO + - - -
Latch-up Analysis of Cmos Integrated-circuits For Automotive Applications 1985 ZANONI, ENRICO + ALTA FREQUENZA - -
SEM study of latch-up in steady-state and transient conditions 1985 ZANONI, ENRICO + - - Proceedings of the 15th European Solid State Device Research Conference
Degradation Mechanisms Induced By Temperature In Power Mesfets 1985 ZANONI, ENRICO + ELECTRONICS LETTERS - -