ZANONI, ENRICO
ZANONI, ENRICO
Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione - DEI
Failures in Schottky logics induced by intermetallic compound formation in PtSi-Ti/W-Al metal system
1981 C., Canali; F., Fantini; G., Soncini; M., Vanzi; Zanoni, Enrico
"Reliability of PtSi-Ti/W-Al Metallization System used in Bipolar Logics"19th International Reliability Physics Symposium
1981 Claudio, Canali; Fausto, Fantini; Giuseppe, Queirolo; Zanoni, Enrico
Failure modes induced in TTL-LS bipolar logics by negative inputs
1982 C., Canali; F., Fantini; G., Soncini; P., Venturi; Zanoni, Enrico
Electrical degradation of n-Si/PtSi/(Ti-W)/Al Schottky contacts induced by thermal treatments
1982 C., Canali; F., Fantini; Zanoni, Enrico
Interdiffusion and compound formation in the cSi/PtSi/(TiW)/Al system
1982 C., Canali; G., Celotti; F., Fantini; Zanoni, Enrico
Bipolar Schottky logic device failure modes due to contact metallurgical degradation
1982 C., Canali; F., Fantini; M., Vanzi; G., Soncini; Zanoni, Enrico
L'affidabilità dei dispositivi a semiconduttore
1983 F., Fantini; G., Mattana; Zanoni, Enrico
Failure mechanisms induced by electromigration in advanced ECL ICs
1983 C., Canali; F., Fantini; A., Giovannetti; G., Soncini; M., Vanzi; Zanoni, Enrico
La fisica dei meccanismi di guasto nella microelettronica
1983 F., Fantini; G., Mattana; Zanoni, Enrico
Fabrication and characteristics of optical waveguides on LiNbO3
1983 M. N., Armenise; C., Canali; M., De Sario; Zanoni, Enrico
Crystal defects induced during Ti:LiNbO3 optical waveguide fabrication
1983 P., Franzosi; P., Sgarzi; Zanoni, Enrico
Integrazione ottica
1983 C., Canali; Zanoni, Enrico
Elettromigrazione in dispositivi Emitter Coupled Logic con metallizzazioni in Al-Cu-Si
1983 D., Govoni; M., Vanzi; Zanoni, Enrico
Applicazioni della spettrometria Auger all'analisi guasto di MESFET al GaAs
1984 F., Castaldo; Zanoni, Enrico
Failures induced by electromigration in ECL 100k devices
1984 C., Canali; F., Fantini; Zanoni, Enrico; A., Giovannetti; P., Brambilla
Power GaAs MESFET: Reliability aspects and failure mechanisms
1984 C., Canali; F., Castaldo; F., Fantini; D., Ogliari; M., Vanzi; M., Zicolillo; Zanoni, Enrico
Observation of latch-up phenomena in CMOS IC's by means of Digital Differential Voltage Contrast
1984 F., Fantini; M., Fato; C., Morandi; G., Soncini; M., Vanzi; Zanoni, Enrico
Degradation Mechanisms Induced By Temperature In Power Mesfets
1985 C., Canali; F., Fantini; L., Umena; Zanoni, Enrico
Latch-up Analysis of Cmos Integrated-circuits For Automotive Applications
1985 R., Rocchelli; Zanoni, Enrico
SEM study of latch-up in steady-state and transient conditions
1985 C., Canali; F., Fantini; M., Vanzi; M., Giannini; A., Senin; Zanoni, Enrico