This talk presents results on the reliability of GaAs power MESFETs submitted to various types of DC accelerated tests

Analisi dei meccanismi di guasto dovuti alla metallizzazione di gate in MESFET al GaAs

ZANONI, ENRICO
1986

Abstract

This talk presents results on the reliability of GaAs power MESFETs submitted to various types of DC accelerated tests
1986
Atti del LXXII Congresso Nazionale della Società Italiana di Fisica
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