Riassunto presentato al Congresso congiunto SIMP-AIV-SoGeI-SGI "Il Pianeta Dinamico: sviluppi e prospettive a 100 anni da Wegener", Firenze, 2-4 Settembre 2015.
Trace element analysis of archaeological glasses: comparison between LA-ICPMS and Electron Microprobe analysis.
SILVESTRI, ALBERTA;
2015
Abstract
Riassunto presentato al Congresso congiunto SIMP-AIV-SoGeI-SGI "Il Pianeta Dinamico: sviluppi e prospettive a 100 anni da Wegener", Firenze, 2-4 Settembre 2015.File in questo prodotto:
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