Lattice Strain Analysis of VPE-Grown ZnS Epitaxial Layers on (001) GaAs by RBS - Channeling and High Resolution XRD Measurements

ROMANATO, FILIPPO;DRIGO, ANTONIO
1996
1996
MATERIAL SCIENCE FORUM
WOS:A1996BF42M00040
01.01 - Articolo in rivista
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