TID Effects on Random Telegraph Signals in Bulk 90 nm MOSFET Devices

Neuendank J.;Al Mamun F.;Barnaby H.;Bonaldo S.;Spear M.;Wallace T.;Loveless D.;Pew J.;Nour M.;Manos P.;Giorno Z.;Suriono U.;Chambers M.;Kosier S.

2023