Measurement of B+ → τ+ ντ branching fraction with a hadronic tagging method at Belle II

Adachi, I.; Adamczyk, K.; Ahmed, H.; Ahn, Y.; Aihara, H.; Akopov, N.; Alhakami, M.; Aloisio, A.; Althubiti, N.; Angelsmark, M.; N. A., Ky; Asner, D. M.; Atmacan, H.; Aushev, V.; Aversano, M.; Ayad, R.; Babu, V.; Baghel, N. K.; Bahinipati, S.; Bambade, P.; Banerjee, Sw.; Bartl, M.; Baudot, J.; Baur, A.; Beaubien, A.; Becherer, F.; Becker, J.; Bennett, J. V.; Bernlochner, F. U.; Bertacchi, V.; Bertholet, E.; Bessner, M.; Bettarini, S.; Bhuyan, B.; Bianchi, F.; Biswas, D.; Bobrov, A.; Bodrov, D.; Bondar, A.; Borah, J.; Boschetti, A.; Bozek, A.; Bracko, M.; Branchini, P.; Briere, R. A.; Browder, T. E.; Budano, A.; Bussino, S.; Campagna, Q.; Campajola, M.; Cao, L.; Casarosa, G.; Cecchi, C.; Chang, M. -C.; Cheema, P.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Chirapatpimol, K.; Cho, H. -E.; Cho, K.; Cho, S. -J.; Choi, S. -K.; Choudhury, S.; Cochran, J.; Corona, L.; Cui, J. X.; De La Cruz-Burelo, E.; De La Motte, S. A.; De Nardo, G.; De Pietro, G.; De Sangro, R.; Destefanis, M.; Dey, S.; Di Canto, A.; Dingfelder, J.; Dolezal, Z.; Dong, T. V.; Dorigo, M.; Dugic, K.; Dujany, G.; Ecker, P.; Epifanov, D.; Eppelt, J.; Ferber, T.; Fillinger, T.; Finck, C.; Finocchiaro, G.; Fodor, A.; Forti, F.; Fulsom, B. G.; Gabrielli, A.; Gale, A.; Garcia-Hernandez, M.; Gartner, L.; Gaudino, G.; Gaur, V.; Gaz, A.; Gellrich, A.; Ghevondyan, G.; Ghosh, D.; Ghumaryan, H.; Giakoustidis, G.; Giordano, R.; Giri, A.; Gironell, P. G.; Gobbo, B.; Godang, R.; Gogota, O.; Goldenzweig, P.; Gradl, W.; Graziani, E.; Greenwald, D.; Gruberova, Z.; Guan, Y.; Gudkova, K.; Haide, I.; Hayashii, H.; Hazra, S.; Hearty, C.; De La Cruz, I. H.; Higuchi, T.; Hoek, M.; Hohmann, M.; Hoppe, R.; Horak, P.; Hsu, C. -L.; Huang, A.; Iijima, T.; Ipsita, N.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Jackson, P.; Jacobi, D.; Jacobs, W. W.; Jaffe, D. E.; Jang, E. -J.; Jin, Y.; Johnson, A.; Joo, K. K.; Junkerkalefeld, H.; Kandra, J.; Kang, K. H.; Karyan, G.; Kawasaki, T.; Ketter, C.; Kiesling, C.; Kim, D. Y.; Kim, J. -Y.; Kim, K. -H.; Kindo, H.; Kinoshita, K.; Kodys, P.; Koga, T.; Kohani, S.; Kojima, K.; Korobov, A.; Korpar, S.; Kovalenko, E.; Kowalewski, R.; Krizan, P.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kumar, D.; Kumar, R.; Kumara, K.; Kunigo, T.; Kuzmin, A.; Kwon, Y. -J.; Lam, T.; Lange, J. S.; Lau, T. S.; Laurenza, M.; Leboucher, R.; Lediberder, F. R.; Lee, M. J.; Leo, P.; L. K., Li; W. Z., Li; Li, Y.; Libby, J.; Lin, S.; Liu, M. H.; Liu, Q. Y.; Liu, Z. Q.; Liventsev, D.; Longo, S.; Lueck, T.; Lyu, C.; Ma, Y.; Madaan, C.; Maggiora, M.; Maiti, R.; Mancinelli, G.; Manfredi, R.; Manoni, E.; Mantovano, M.; Marcantonio, D.; Marcello, S.; Marinas, C.; Martellini, C.; Martens, A.; Martinov, T.; Massaccesi, L.; Masuda, M.; Matsuoka, K.; Maurya, S. K.; Maushart, M.; Mckenna, J. A.; Meier, F.; Meleshko, D.; Merola, M.; Miller, C.; Mirra, M.; Miyabayashi, K.; Mizuk, R.; Mondal, S.; Moneta, S.; Moser, H. -G.; Nakamura, I.; Nakao, M.; Nakazawa, H.; Natkaniec, Z.; Natochii, A.; Nayak, M.; Neu, M.; Niiyama, M.; Nishida, S.; Ogawa, S.; Okubo, R.; Ono, H.; Pakhlova, G.; Pardi, S.; Park, J.; Park, K.; Park, S. -H.; Paschen, B.; Patra, S.; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Peruzzi, I.; Peschke, R.; Piilonen, L. E.; Podobnik, T.; Pokharel, S.; Praz, C.; Prell, S.; Prencipe, E.; Prim, M. T.; Privalov, S.; Prudiiev, I.; Purwar, H.; Raiz, S.; Ravindran, K.; Rehman, J. U.; Reif, M.; Reiter, S.; Remnev, M.; Herrmann, D. R.; Ripp-Baudot, I.; Rizzo, G.; Robertson, S. H.; Roney, J. M.; Rostomyan, A.; Rout, N.; Sanders, D. A.; Sandilya, S.; Santelj, L.; Savinov, V.; Scavino, B.; Schmitt, C.; Schmitz, J.; Schneider, S.; Schwanda, C.; Seino, Y.; Senyo, K.; Sevior, M. E.; Sfienti, C.; Shan, W.; Shi, X. D.; Shillington, T.; Shiu, J. -G.; Shtol, D.; Sibidanov, A.; Simon, F.; Singh, J. B.; Skorupa, J.; Sobie, R. J.; Sobotzik, M.; Soffer, A.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Spataro, S.; Spruck, B.; Staric, M.; Stefkova, S.; Stroili, R.; Sue, Y.; Sumihama, M.; Takizawa, M.; Tenchini, F.; Thaller, A.; Tittel, O.; Tiwary, R.; Torassa, E.; Trabelsi, K.; Tsaklidis, I.; Ueda, I.; Uglov, T.; Unger, K.; Uno, K.; Uno, S.; Urquijo, P.; Ushiroda, Y.; Vahsen, S. E.; Van Tonder, R.; Varvell, K. E.; Veronesi, M.; Vinokurova, A.; Vismaya, V. S.; Vobbilisetti, V.; Volpe, R.; Wallner, S.; Wang, M. -Z.; Warburton, A.; Watanuki, S.; Wessel, C.; Won, E.; X. P., Xu; Yabsley, B. D.; Yamada, S.; Yan, W.; Yang, S. B.; Yelton, J.; Yin, J. H.; Yoshihara, K.; Yuan, C. Z.; Yuan, J.; Zani, L.; Zeng, F.; Zhang, B.; Zhilich, V.; Zhou, Q. D.; Zhu, L.; Zlebci, R.

doi:10.1103/dcwd-5tg4

We present a measurement of the branching fraction of B+ → τ+ντ decays using 387 ± 6 × 106 ϒ(4S) collected between 2019and2022 withtheBelle II detector at theSuperKEKBeþ e+ e- collider.We reconstruct the accompanying B- meson using the hadronic tagging method, while B+ → τ+ντ candidates are identified in the recoil. We find evidence for B+ → τ+ντ decays at 3.0 standard deviations, including systematic uncertainties.The measured branching fraction is(Formula presended.).

Measurement of B+ → τ+ ντ branching fraction with a hadronic tagging method at Belle II

Adachi I.;Adamczyk K.;Ahmed H.;Ahn Y.;Aihara H.;Akopov N.;Alhakami M.;Aloisio A.;Althubiti N.;Angelsmark M.;Ky N. A.;Asner D. M.;Atmacan H.;Aushev V.;Aversano M.;Ayad R.;Babu V.;Baghel N. K.;Bahinipati S.;Bambade P.;Banerjee Sw.;Bartl M.;Baudot J.;Baur A.;Beaubien A.;Becherer F.;Becker J.;Bennett J. V.;Bernlochner F. U.;Bertacchi V.;Bertholet E.;Bessner M.;Bettarini S.;Bhuyan B.;Bianchi F.;Biswas D.;Bobrov A.;Bodrov D.;Bondar A.;Borah J.;Boschetti A.;Bozek A.;Bracko M.;Branchini P.;Briere R. A.;Browder T. E.;Budano A.;Bussino S.;Campagna Q.;Campajola M.;Cao L.;Casarosa G.;Cecchi C.;Chang M. -C.;Cheema P.;Cheon B. G.;Chilikin K.;Chirapatpimol K.;Cho H. -E.;Cho K.;Cho S. -J.;Choi S. -K.;Choudhury S.;Cochran J.;Corona L.;Cui J. X.;De La Cruz-Burelo E.;De La Motte S. A.;De Nardo G.;De Pietro G.;de Sangro R.;Destefanis M.;Dey S.;Di Canto A.;Dingfelder J.;Dolezal Z.;Dong T. V.;Dorigo M.;Dugic K.;Dujany G.;Ecker P.;Epifanov D.;Eppelt J.;Ferber T.;Fillinger T.;Finck C.;Finocchiaro G.;Fodor A.;Forti F.;Fulsom B. G.;Gabrielli A.;Gale A.;Garcia-Hernandez M.;Gartner L.;Gaudino G.;Gaur V.;Gaz A.;Gellrich A.;Ghevondyan G.;Ghosh D.;Ghumaryan H.;Giakoustidis G.;Giordano R.;Giri A.;Gironell P. G.;Gobbo B.;Godang R.;Gogota O.;Goldenzweig P.;Gradl W.;Graziani E.;Greenwald D.;Gruberova Z.;Guan Y.;Gudkova K.;Haide I.;Hayashii H.;Hazra S.;Hearty C.;de la Cruz I. H.;Higuchi T.;Hoek M.;Hohmann M.;Hoppe R.;Horak P.;Hsu C. -L.;Huang A.;Iijima T.;Ipsita N.;Ishikawa A.;Itoh R.;Iwasaki M.;Jackson P.;Jacobi D.;Jacobs W. W.;Jaffe D. E.;Jang E. -J.;Jin Y.;Johnson A.;Joo K. K.;Junkerkalefeld H.;Kandra J.;Kang K. H.;Karyan G.;Kawasaki T.;Ketter C.;Kiesling C.;Kim D. Y.;Kim J. -Y.;Kim K. -H.;Kindo H.;Kinoshita K.;Kodys P.;Koga T.;Kohani S.;Kojima K.;Korobov A.;Korpar S.;Kovalenko E.;Kowalewski R.;Krizan P.;Krokovny P.;Kuhr T.;Kumar D.;Kumar R.;Kumara K.;Kunigo T.;Kuzmin A.;Kwon Y. -J.;Lam T.;Lange J. S.;Lau T. S.;Laurenza M.;Leboucher R.;LeDiberder F. R.;Lee M. J.;Leo P.;Li L. K.;Li W. Z.;Li Y.;Libby J.;Lin S.;Liu M. H.;Liu Q. Y.;Liu Z. Q.;Liventsev D.;Longo S.;Lueck T.;Lyu C.;Ma Y.;Madaan C.;Maggiora M.;Maiti R.;Mancinelli G.;Manfredi R.;Manoni E.;Mantovano M.;Marcantonio D.;Marcello S.;Marinas C.;Martellini C.;Martens A.;Martinov T.;Massaccesi L.;Masuda M.;Matsuoka K.;Maurya S. K.;Maushart M.;McKenna J. A.;Meier F.;Meleshko D.;Merola M.;Miller C.;Mirra M.;Miyabayashi K.;Mizuk R.;Mondal S.;Moneta S.;Moser H. -G.;Nakamura I.;Nakao M.;Nakazawa H.;Natkaniec Z.;Natochii A.;Nayak M.;Neu M.;Niiyama M.;Nishida S.;Ogawa S.;Okubo R.;Ono H.;Pakhlova G.;Pardi S.;Park J.;Park K.;Park S. -H.;Paschen B.;Patra S.;Paul S.;Pedlar T. K.;Peruzzi I.;Peschke R.;Piilonen L. E.;Podobnik T.;Pokharel S.;Praz C.;Prell S.;Prencipe E.;Prim M. T.;Privalov S.;Prudiiev I.;Purwar H.;Raiz S.;Ravindran K.;Rehman J. U.;Reif M.;Reiter S.;Remnev M.;Herrmann D. R.;Ripp-Baudot I.;Rizzo G.;Robertson S. H.;Roney J. M.;Rostomyan A.;Rout N.;Sanders D. A.;Sandilya S.;Santelj L.;Savinov V.;Scavino B.;Schmitt C.;Schmitz J.;Schneider S.;Schwanda C.;Seino Y.;Senyo K.;Sevior M. E.;Sfienti C.;Shan W.;Shi X. D.;Shillington T.;Shiu J. -G.;Shtol D.;Sibidanov A.;Simon F.;Singh J. B.;Skorupa J.;Sobie R. J.;Sobotzik M.;Soffer A.;Sokolov A.;Solovieva E.;Spataro S.;Spruck B.;Staric M.;Stefkova S.;Stroili R.;Sue Y.;Sumihama M.;Takizawa M.;Tenchini F.;Thaller A.;Tittel O.;Tiwary R.;Torassa E.;Trabelsi K.;Tsaklidis I.;Ueda I.;Uglov T.;Unger K.;Uno K.;Uno S.;Urquijo P.;Ushiroda Y.;Vahsen S. E.;van Tonder R.;Varvell K. E.;Veronesi M.;Vinokurova A.;Vismaya V. S.;Vobbilisetti V.;Volpe R.;Wallner S.;Wang M. -Z.;Warburton A.;Watanuki S.;Wessel C.;Won E.;Xu X. P.;Yabsley B. D.;Yamada S.;Yan W.;Yang S. B.;Yelton J.;Yin J. H.;Yoshihara K.;Yuan C. Z.;Yuan J.;Zani L.;Zeng F.;Zhang B.;Zhilich V.;Zhou Q. D.;Zhu L.;Zlebci R.

2025

Abstract

Scheda breve

Scheda completa

Scheda completa (DC)

	Anno
	
				2025
			
	Rivista su cui è pubblicata l'opera
	
				PHYSICAL REVIEW D
			
	Codice DOI
	
				https://dx.doi.org/10.1103/dcwd-5tg4
			
	Codice WOS
	
				WOS:001639062600001
			
	Codice Scopus
	
				2-s2.0-105020874518
			
	Codice OpenAlex
	
				W4414800295
			
	Appare nelle tipologie:
	
				01.01 - Articolo in rivista

File in questo prodotto:

File	Dimensione	Formato
dcwd-5tg4.pdf accesso aperto Tipologia: Published (Publisher's Version of Record) Licenza: Creative commons Dimensione 2.21 MB Formato Adobe PDF Visualizza/Apri	2.21 MB	Adobe PDF	Visualizza/Apri

Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11577/3573197

Measurement of B+ → τ+ ντ branching fraction with a hadronic tagging method at Belle II

2025

Abstract

Scheda breve

Scheda completa

Scheda completa (DC)

Pubblicazioni consigliate

Citazioni

social impact

Measurement of B+ → τ+ ντ branching fraction with a hadronic tagging method at Belle II

2025

Abstract

Scheda breve Scheda completa Scheda completa (DC)

Pubblicazioni consigliate

Informazioni

Citazioni

social impact

Conferma cancellazione

Scheda breve

Scheda completa

Scheda completa (DC)