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Grazing-incidence flat-field spectrometer for high-order harmonic diagnostic
2001 L., Poletto; Naletto, Giampiero; Tondello, Giuseppe
Advanced instrumentation for spectral and spatial investigations of high-order laser harmonics
2001 Poletto, L; Tondello, Giuseppe; Villoresi, Paolo
The monochromator for the synchrotron radiation beamline X-MOSS at ELETTRA
2001 Naletto, G; Pelizzo, Mg; Tondello, G; Nannarone, S; Giglia, A
First realization and characterization of multilayer EUV reflective coatings
2001 Nicolosi, Piergiorgio; Patelli, Alessandro; Pelizzo, MARIA-GUGLIELMINA; Rigato, V.; Maggioni, Gianluigi; Depero, L.; Bontempi, E.; Mattei, Giovanni; Poletto, Luca; Mazzoldi, Paolo; Tondello, Giuseppe
Spectral features and modeling of high-order harmonics generated by sub-10-fs pulses
2000 Villoresi, Paolo; P., Ceccherini; L., Poletto; Tondello, Giuseppe; C., Altucci; R., Bruzzese; C., DE LISIO; M., Nisoli; S., Stagira; G., Cerullo; S., DE SILVESTRI; O., Svelto
Features of high order harmonic generation in the 30 fs and in the sub-10 fs regimes
2000 C., Altucci; R., Bruzzese; C., DE LISIO; M., Nisoli; G., Cerullo; S., Stagira; S., DE SILVESTRI; O., Svelto; A., Boscolo; P., Ceccherini; L., Poletto; Tondello, Giuseppe; Villoresi, Paolo
Performance of the grating-crystal monochromator of the ALOISA beamline at the Elettra Synchrotron
1999 L., Floreano; Naletto, Giampiero; D., Cvetko; R., Gotter; M., Malvezzi; L., Marassi; A., Morgante; A., Santaniello; A., Verdini; F., Tommasini; Tondello, Giuseppe
X-ray magneto-optics and surface science (X-MOSS) beamline at ELETTRA
1998 Nannarone, S; Gazzadi, Gc; Pasquali, L; Sacchi, M; Pelizzo, Mg; Tondello, G
Performances of a CCD camera from 1 to 1100 nm spectral region
1997 Poletto, L; Boscolo, A; Pelizzo, Mg; Placentino, L; Tondello, G
Quantum efficiency measurement on a CCD detector in the 0.3-1100 nm spectral region
1997 Poletto, Luca; Boscolo, Alessio; Pelizzo, MARIA-GUGLIELMINA; Placentino, Leonardo; Tondello, Giuseppe
Performance of a thinned back-illuminated ion-implanted CCD as detector for a normal incidence EUV spectrograph
1994 Naletto, G.; Pace, E.; Tondello, G.; Boscolo, A.
A high efficiency imaging extreme ultraviolet spectrometer
1991 Morgan, J. S.; Timothy, J. G.; Slater, D. C.; Huber, M. C. E.; Tondello, Giuseppe; Naletto, Giampiero; Nicolosi, Piergiorgio; Jannitti, E.
A Review on Experimental Studies of the Photoabsorption Spectra of Low Z Ions
1991 Nicolosi, Piergiorgio; E., Jannitti; Tondello, Giuseppe
A HIGH EFFICIENCY IMAGING EXTREME ULTRAVIOLET SPECTROMETER
1991 Morgan, JEFFREY S.; Timothy, J. GETHYN; Slater, DAVID C.; Huber, MARTIN C. E.; Tondello, Giuseppe; Jannitti, Ermano; Naletto, Giampiero; Nicolosi, Piergiorgio; Lemaître, Gerard
Absorption Spectra from 1s Inner Shell Electron of Ionized and Neutral Carbon
1990 E., Jannitti; Nicolosi, Piergiorgio; Tondello, Giuseppe
Inner Shell Photoabsorption Spectra of C Ions
1990 E., Jannitti; Nicolosi, Piergiorgio; Tondello, Giuseppe
Photoionization Measurements of Light Ions in the Soft X-Ray Spectral Range
1990 E., Jannitti; Nicolosi, Piergiorgio; Tondello, Giuseppe
Absorption Spectra and Photoionization Cross-Section Measurements of Carbon Ions in the Extreme Ultraviolet
1988 E., Jannitti; Nicolosi, Piergiorgio; Tondello, Giuseppe
Evaluation Of Toroidal Gratings In The EUV
1988 Huber, M. C. E.; Lemaitre, G.; Naletto, G.; Nicolosi, Piergiorgio; Tondello, Giuseppe; Jannitti, E.; Morgan, J. S.; Timothy, J. G.
XUV Absorption Spectra of Carbon Ions
1988 E., Jannitti; Nicolosi, Piergiorgio; Tondello, Giuseppe
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