RANDO, RICCARDO
RANDO, RICCARDO
Dipartimento di Fisica e Astronomia "Galileo Galilei" - DFA
Low- and High-energy proton irradiations of standard and oxygenated silicon diodes
2001 Bisello, Dario; Candelori, Andrea; Rando, Riccardo; Bacchetta, N; Kaminsky, A; Pantano, Devis; Stavitski, I; Wyss, J.
Proton irradiation effects on standard and oxygenated silicon diodes
2002 Bisello, Dario; N., Bacchetta; Candelori, Andrea; A., Kaminski; Pantano, Devis; Rando, Riccardo; I., Stavitski; J., Wyss
Charge collection efficiency of standard and oxygenated silicon microstrip detectors
2002 Stavitski, I.; Rando, Riccardo; Bisello, Dario; Bacchetta, N.; Candelori, Andrea; Wyss, J.; Kaminski, A.
The GLAST tracker design and construction
2002 Bellazzini, R; Andreanelli, L; Angelini, F; Allegretti, S; Bagagli, R; Baldini, L; Barbiellini, G; Belli, F; Brez, A; Ceccanti, M; Cecchi, C; Ceschia, M; Tanugi, Jc; DE ANGELIS, A; Favuzzi, C; Gargano, F; Giannitrapani, R; Giglietto, ; Giordano, F; Kuss, M; Latronico, L; Longo, F; Loparco, F; Lubrano, P; Massai, Mm; Mazziotta, Mn; Minuti, M; Morselli, A; Omodei, N; Paccagnella, Alessandro; Pagliarone, C; Picozza, P; Prest, M; Raino, S; Rando, Riccardo; Spandre, G; Spinelli, P; Vigiani, L; Zetti, F.
Neutron irradiation effects on standard and oxygenated silicon diodes
2002 Bisello, Dario; Candelori, Andrea; Kaminski, A; Pantano, Devis; Rando, Riccardo; Wyss, J; Andrighetto, Alberto; Cindro, V.
Silicon diode radiation hardening for high energy physics detectors
2003 Bisello, Dario; Candelori, Andrea; Kaminski, A; Litovchenko, A; Pantano, Devis; Rando, Riccardo; Stavitski, I; Wyss, J.
GLAST Large Area Telescope simulation tools
2003 Baldini, L.; Bastieri, Denis; Boinee, P.; Brigida, M.; Cabras, G.; Cecchi, C.; COHEN TANUGI, J.; DE ANGELIS, A.; Favretto, D.; Fiorucci, M.; Frailis, M.; Gargano, F.; Giannitrapani, R.; Giglietto, N.; Kuss, M.; Latronico, L.; Lionetto, A.; Longo, F.; Loparco, F.; Lubrano, P.; Marcucci, F.; Mazziotta, M. N.; Milotti, E.; Morselli, A.; Omodei, N.; Pepe, M.; Rando, Riccardo; Razzano, M.; Spandre, G.; Tosti, G.
Radiation hardness of silicon detectors for high-energy physics applications
2003 Bisello, Dario; Candelori, Andrea; Rando, Riccardo; Kaminsky, A; Litovchenko, A; Wyss, J; DELLA BETTA, Gf; Lozano, M; Martinez, C; Ullan, M; Boscardin, M; Zorzi, N.
New evidence of dominant processing effects in standard and oxygenated silicon diodes after neutron irradiation
2003 Candelori, Andrea; Rando, Riccardo; Bisello, Dario; Campabadal, F; Cindro, V; Fonseca, L; Kaminski, A; Litovchenko, A; Lozano, M; Martinez, C; Moreno, A; Rafi, Jm; Santander, J; Ullan, M; Wyss, J.
Silicon detectors for gamma-ray and beta spectroscopy
2003 Litovchenko, P. G.; Wahl, W.; Bisello, Dario; Rando, Riccardo; LITOVCHENKO A., P; Lastovetsky, V. F.; Barabash, L. I.; Kibkalo, T. I.; Polivtsev, L. A.; Kolevatov, J. I.; Semenov, V. P.; Trykov, L. A.; Wyss, J.
Status of the ion electron emission microscope at the SIRAD single event facility
2003 Bisello, Dario; Candelori, Andrea; DAL MASCHIO, M.; Giubilato, Piero; Kaminsky, A.; Nigro, Massimo; Pantano, Devis; Rando, Riccardo; Sedhykh, S.; Tessaro, M.; Wyss, J.
Lithium ion irradiation of standard and oxygenated silicon diodes
2004 Candelori, Andrea; Bisello, Dario; DALLA BETTA, G; Giubilato, Piero; Kaminski, A; Litovchenko, A; Lozano, M; Petrie, Jr; Rando, Riccardo; Ullan, M; Wyss, J.
The SIRAD irradiation facility for radiation damage studies induced by high-energy ions
2004 Bisello, Dario; Candelori, Andrea; Giubilato, Piero; Kaminski, A; Pantano, Devis; Rando, Riccardo; Tessaro, M; Wyss, J.
Radiation testing of GLAST LAT tracker ASICs
2004 Rando, Riccardo; Bangert, A; Bisello, Dario; Candelori, Andrea; Giubilato, Piero; Hirayama, M; Johnson, R; Sadrozinski, Hfw; Sugizaki, M; Wyss, J; Ziegler, A.
Lithium ion irradiation effects on epitaxial silicon detectors
2004 Candelori, Andrea; Schramm, A; Bisello, Dario; Contarato, D; Fretwurst, E; Lindstrom, G; Rando, Riccardo; Wyss, J.
Radiation hardness of semiconductor detectors for high energy physics applications
2004 Bisello, Dario; Candelori, Andrea; Giubilato, Piero; Kaminski, A; Litovchenko, A; Pantano, Devis; Rando, Riccardo; Wyss, J.
A novel sensor for ion electron emission microscopy
2004 Bisello, Dario; DAL MASCHIO, Marco; Giubilato, Piero; Kaminsky, A; Nigro, Massimo; Pantano, Devis; Rando, Riccardo; Tessaro, M; Wyss, J.
Lithium ion-induced damage in silicon detectors
2004 Candelori, Andrea; Bisello, Dario; Giubilato, Piero; Kaminski, A; Litovchenko, A; Lozano, M; Ullan, M; Rando, Riccardo; Wyss, J.
Ion electron emission microscopy at SIRAD
2005 Bisello, Dario; Candelori, Andrea; Giubilato, Piero; A., Kaminsky; Mattiazzo, Serena; Nigro, Massimo; Pantano, Devis; Rando, Riccardo; M., Tessaro; J., Wyss; S., Bertazzoni; D., DI GIOVENALE
Using the photons from the Crab Nebula seen by GLAST to calibrate MAGIC and the imaging air Cherenkov telescopes
2005 Bastieri, Denis; Bigongiari, Ciro; E., Bisesi; Busetto, Giovanni; A., DE ANGELIS; B., DE LOTTO; T., Lenisa; F., Longo; Mariotti, Mose'; A., Moralejo; Pascoli, Donatella; Peruzzo, Luigi; S., Raducci; Rando, Riccardo; Saggion, Antonio; Sartori, Paolo; Scalzotto, VILLI MARIO