CANDELORI, ANDREA
CANDELORI, ANDREA
Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione - DEI
Spice Analysis of Signal Propagation In Si Microstrip Detectors
1995 N., Bacchetta; Bisello, Dario; Candelori, Andrea; Paccagnella, Alessandro; M., Spada; M., Vanzi
A SPICE model for Si microstrip detectors and read-out electronics
1996 N., Bacchetta; Bisello, Dario; C., Calgarotto; Candelori, Andrea; Paccagnella, Alessandro
Breakdown properties of irradiated MOS capacitors
1996 Paccagnella, Alessandro; Candelori, Andrea; A., Milani; E., Formigoni; G., Ghidini; F., Pellizzer; D., Drera; P. G., Fuochi; M., Lavale
Radiation induced bulk damage in silicon diodes with pions and protons
1997 N., Bacchetta; Bisello, Dario; Candelori, Andrea; A., Giraldo; Loreti, Maurizio; Pantano, Devis; A., Pellizzari
A SPICE model of the ohmic side of double-sided Si microstrip detectors
1997 Candelori, Andrea; Paccagnella, Alessandro; F., Bonin; N., Bacchetta; M., Darold; Bisello, Dario
Radiation effects on breakdown characteristics of multiguarded devices
1997 M., Darold; Paccagnella, Alessandro; A., Dare; G., Verzellesi; N., Bacchetta; R., Wheadon; G. F., Dallabetta; Candelori, Andrea; G., Soncini; Bisello, Dario
HSPICE simulations of Si microstrip detectors
1998 N., Bacchetta; Bisello, Dario; Candelori, Andrea; M. D., Rold; F., Nardi; Paccagnella, Alessandro
High-voltage operation of silicon devices for LHC experiments
1998 N., Bacchetta; Bisello, Dario; Candelori, Andrea; M., Cavone; G. F., Dalla; M. D., Rold; G. D., Liso; R., Dell'Orso; P. G., Fuochi; A., Messineo; A., Mihul; O., Militaru; Paccagnella, Alessandro; G., Tonelli; P. G., Verdini; G., Verzellesi; R., Wheadon
MOSFET parameter degradation after Fowler–Nordheim injection stress
1998 Candelori, Andrea; E., Gomiero; G., Ghidini; Paccagnella, Alessandro
The CMS silicon tracker
1998 R., D'Alessandro; S., Albergo; M., Angarano; P., Azzi; E., Babucci; N., Bacchetta; G., Bagliesi; P., Bartalini; A., Basti; U., Biggeri; G. M., Bilei; Bisello, Dario; D., Boemi; F., Bosi; L., Borrello; C., Bozzi; H., Breuker; M., Bruzzi; Candelori, Andrea; A., Caner; R., Castaldi; A., Castro; E., Catacchini; B., Checcucci; P., Ciampolini; C., Civinini; J., Connotte; D., Creanza; M. D., Rold; M. d., Palma; R., Dell'Orso; R. D., Marina; C., Eklund; A., Elliott Peisert; L., Feld; L., Fiore; E., Focardi; M., French; K., Freudenreich; A., Giassi; A., Giraldo; B., Glessing; W. H., Gu; G., Hall; R., Hammerstrom; J., Hrubec; M., Huhtinen; V., Karimaki; M., Krammer; P., Lariccia; M., Lenzi; Loreti, Maurizio; K., Luebelsmeyer; W., Lustermann; G., Maggi; M., Mannelli; G., Mantovani; A., Marchioro; G., Martignon; B., Mcevoy; M., Meschini; A., Messineo; S., My; Paccagnella, Alessandro; F., Palla; D., Pandoulas; G., Parrini; D., Passeri; M., Pieri; S., Piperov; R., Potenza; F., Raffaelli; G., Raso; M., Raymond; A., Santocchia; B., Schmitt; G., Selvaggi; L., Servoli; G., Sguazzoni; R., Siedling; L., Silvestris; K., Skog; A., Starodumov; I., Stavitsky; G., Stefanini; P., Tempesta; G., Tonelli; A., Tricomi; T., Tuuva; C., Vannini; P. G., Verdini; G., Viertel; Z., Xie; Y., Wang; S., Watts; B., Wittmer
Test results of heavily irradiated Si detectors
1999 S., Albergo; P., Azzi; E., Babucci; N., Bacchetta; A., Bader; G., Bagliesi; P., Bartalini; A., Basti; U., Biggeri; G. M., Bilei; Bisello, Dario; D., Boemi; F., Bosi; L., Borrello; C., Bozzi; H., Breuker; M., Bruzzi; Candelori, Andrea; A., Caner; R., Castaldi; A., Castro; E., Catacchini; B., Checcucci; P., Ciampolini; C., Civinini; J., Connotte; D., Creanza; R., D'Alessandro; M. D., Rold; M. d., Palma; R., Dell'Orso; R. D., Marina; D., Eklund; A., Elliot Peisert; L., Feld; L., Fiore; E., Focardi; M., French; K., Freudenreich; A., Giassi; A., Giraldo; B., Glessing; W. H., Gu; G., Hall; R., Hammerstrom; J., Hrubec; M., Huhtinen; V., Karimaki; M., Krammer; P., Lariccia; M., Lenzi; Loreti, Maurizio; K., Luebelsmeyer; W., Lustermann; D., Maggi; M., Mannelli; G., Mantovani; A., Marchioro; G., Martignon; B. M., Evoy; M., Meschini; A., Mesineo; S., My; Paccagnella, Alessandro; F., Palla; D., Pandoulas; G., Parrini; D., Passeri; M., Pieri; S., Piperov; R., Potenza; F., Raffaelli; G., Raso; M., Raymond; B., Schmitt; G., Selvaggi; L., Servoli; G., Sguazzoni; R., Siedling; L., Silvestris; K., Skog; A., Starodumov; I., Stavitski; G., Stefanini; P., Tempesta; G., Tonelli; A., Tricomi; T., Tuuva; C., Vannini; P. G., Verdini; G., Viertel; Z., Xie; Y., Wang; S., Watts; B., Wittmer
The CMS silicon strip tracker
1999 E., Focardi; S., Albergo; M., Angarano; P., Azzi; E., Babucci; N., Bacchetta; A., Bader; G., Bagliesi; P., Bartalini; A., Basti; U., Biggeri; G. M., Bilei; Bisello, Dario; D., Boemi; F., Bosi; L., Borrello; C., Bozzi; S., Braibant; H., Breuker; M., Bruzzi; Candelori, Andrea; A., Caner; R., Castaldi; A., Castro; E., Catacchini; B., Checcucci; P., Ciampolini; C., Civinini; D., Creanza; R., D'Alessandro; M. D., Rold; N., Demaria; M. d., Palma; R., Dell'Orso; R. D., Marina; S., Dutta; C., Eklund; A., Elliott Peisert; L., Feld; L., Fiore; M., French; K., Freudenreich; A., Furtjes; A., Giassi; A., Giraldo; B., Glessing; W. H., Gu; G., Hall; R., Hammerstrom; T., Hebbeker; J., Hrubec; M., Huhtinen; A., Kaminsky; V., Karimaki; S., Koenig; M., Krammer; P., Lariccia; M., Lenzi; M., Loreti; K., Luebelsmeyer; W., Lustermann; P., Mattig; G., Maggi; M., Mannelli; G., Mantovani; A., Marchioro; C., Mariotti; G., Martignon; B., Mcevoy; M., Meschini; A., Messineo; S., My; Paccagnella, Alessandro; F., Palla; D., Pandoulas; G., Parrini; D., Passeri; M., Pieri; S., Piperov; R., Potenza; F., Raffaelli; G., Raso; M., Raymond; A., Santocchia; B., Schmitt; G., Selvaggi; L., Servoli; G., Sguazzoni; R., Siedling; L., Silvestris; K., Skog; A., Starodumov; I., Stavitski; G., Stefanini; P., Tempesta; G., Tonelli; A., Tricomi; T., Tuuva; C., Vannini; P. G., Verdini; G., Viertel; Z., Xie; Y., Wang; S., Watts; B., Wittmer
Degradation of electron irradiated MOS capacitors
1999 Candelori, Andrea; Paccagnella, Alessandro; A., Scarpa; G., Ghidini
The CMS silicon microstrip detectors: research and development
1999 N., Bacchetta; S., Albergo; P., Azzi; E., Babucci; A., Bader; G., Bagliesi; P., Bartalini; A., Basti; U., Biggeri; G. M., Bilei; Bisello, Dario; D., Boemi; F., Bosi; L., Borrello; C., Bozzi; H., Breuker; M., Bruzzi; Candelori, Andrea; A., Caner; R., Castaldi; A., Castro; E., Catacchini; B., Checcucci; P., Ciampolini; C., Civinini; J., Connotte; D., Creanza; R., D'Alessandro; M. D., Rold; M. d., Palma; R., Dell'Orso; R. D., Marina; C., Eklund; A., Elliott Peisert; L., Feld; L., Fiore; E., Focardi; M., French; K., Freudenreich; A., Giassi; A., Giraldo; B., Glessing; W. H., Gu; G., Hall; R., Hammerstrom; J., Hrubec; M., Huhtinen; V., Karimaki; M., Krammer; P., Lariccia; M., Lenzi; Loreti, Maurizio; K., Luebelsmeyer; W., Lustermann; G., Maggi; M., Mannelli; G., Mantovani; A., Marchioro; G., Martignon; B. M., Evoy; M., Meschini; A., Messineo; S., My; Paccagnella, Alessandro; F., Palla; D., Pandoulas; G., Parrini; D., Passeri; M., Pieri; S., Piperov; R., Potenza; F., Raffaelli; G., Raso; M., Raymond; B., Schmitt; G., Selvaggi; L., Servoli; G., Sguazzoni; R., Siedling; L., Silvestris; K., Skog; A., Starodumov; I., Stavitski; G., Stefanini; P., Tempesta; G., Tonelli; A., Tricomi; T., Tuuva; C., Vannini; P. G., Verdini; G., Viertel; Z., Xie; Y., Wang; S., Watts; B., Wittmer
SPICE evaluation of the S/N ratio for Si microstrip detectors
1999 Candelori, Andrea; Paccagnella, Alessandro; F., Nardi; N., Bacchetta; Bisello, Dario
The R&D program for silicon detectors in CMS
1999 G., Tonelli; S., Albergo; M., Angarano; P., Azzi; E., Babucci; N., Bacchetta; A., Bader; G., Bagliesi; P., Bartalini; A., Basti; U., Biggeri; G. M., Bilei; Bisello, Dario; D., Boemi; F., Bosi; L., Borrello; C., Bozzi; S., Braibant; H., Breuker; M., Bruzzi; Candelori, Andrea; A., Caner; R., Castaldi; A., Castro; E., Catacchini; B., Checcucci; P., Ciampolini; C., Civinini; D., Creanza; R., D'Alessandro; M. D., Rold; N., Demaria; M. d., Palma; R., Dell'Orso; R. D., Marina; S., Dutta; C., Eklund; A., Elliott Peisert; L., Feld; L., Fiore; E., Focardi; M., French; K., Freudenreich; A., Furtjes; A., Giassi; A., Giraldo; B., Glessing; W. H., Gu; G., Hall; R., Hammerstrom; T., Hebbeker; J., Hrubec; M., Huhtinen; A., Kaminsky; V., Karimaki; S., Koenig; M., Krammer; P., Lariccia; M., Lenzi; M., Loreti; K., Luebelsmeyer; W., Lustermann; P., Mattig; G., Maggi; M., Mannelli; G., Mantovani; A., Marchioro; C., Mariotti; G., Martignon; B., Mcevoy; M., Meschini; A., Messineo; S., My; Paccagnella, Alessandro; F., Palla; D., Pandoulas; G., Parrini; D., Passeri; M., Pieri; S., Piperov; R., Potenza; F., Raffaelli; G., Raso; M., Raymond; B., Schmitt; G., Selvaggi; L., Servoli; G., Sguazzoni; R., Siedling; L., Silvestris; K., Skog; A., Starodumov; I., Stavitski; G., Stefanini; P., Tempesta; A., Tricomi; T., Tuuva; C., Vannini; P. G., Verdini; G., Viertel; Z., Xie; Y., Wang; S., Watts; B., Wittmer
Breakdown of coupling dielectrics for Si microstrip detectors
1999 Candelori, Andrea; Paccagnella, Alessandro; G., Saglimbeni; Bisello, Dario
The silicon microstrip tracker for CMS
1999 S., Albergo; M., Angarano; P., Azzi; E., Babucci; N., Bacchetta; A., Bader; G., Bagliesi; A., Basti; U., Biggeri; G. M., Bilei; Bisello, Dario; D., Boemi; F., Bosi; L., Borrello; C., Bozzi; S., Braibant; H., Breuker; M., Bruzzi; A., Buffini; S., Busoni; Candelori, Andrea; A., Caner; R., Castaldi; A., Castro; E., Catacchini; B., Checcucci; P., Ciampolini; C., Civinini; D., Creanza; R., D'Alessandro; M. D., Rold; N., Demaria; M. d., Plama; R., Dell'Orso; R. D., Marina; S., Dutta; C., Eklund; L., Feld; L., Fiore; E., Focardi; M., French; K., Freudenreich; A., Frey; A., Furtjes; A., Giassi; M., Giorgi; A., Giraldo; B., Glessing; W. H., Gu; G., Hall; R., Hammarstrom; T., Hebbeker; A., Honma; J., Hrubec; M., Huhtinen; A., Kaminsky; V., Karimaki; S., Koenig; M., Krammer; P., Lariccia; M., Lenzi; M., Loreti; K., Luebelsmeyer; W., Lustermann; P., Mattig; G., Maggi; M., Mannelli; G., Mantovani; A., Marchioro; C., Mariotti; G., Martignon; B. M., Evoy; M., Meschini; A., Messineo; E., Migliore; S., My; Paccagnella, Alessandro; F., Palla; D., Pandoulas; A., Papi; G., Parrini; D., Passeri; M., Pieri; S., Piperov; R., Potenza; V., Radicci; F., Raffaelli; M., Raymond; F., Rizzo; A., Santocchia; B., Schmitt; G., Selvaggi; L., Servoli; G., Sguazzoni; R., Siedling; L., Silvestris; A., Starodumov; I., Stavitski; G., Stefanini; B., Surrow; P., Tempesta; G., Tonelli; A., Tricomi; T., Tuuva; C., Vannini; P. G., Verdini; G., Viertel; Z., Xie; Y. H., Li; S., Watts; B., Wittmer
SPICE evaluation of the S/N ratio for Si microstrip detectors
1999 Candelori, Andrea; Paccagnella, Alessandro; F., Nardi; N., Bacchetta; Bisello, Dario
Comparative study of < 111 > and < 100 > crystals and capacitance measurements on Si strip detectors in CMS
1999 S., Albergo; M., Angarano; P., Azzi; E., Babucci; N., Bacchetta; A., Bader; G., Bagliesi; A., Basti; U., Biggeri; G. M., Bilei; Bisello, Dario; D., Boemi; F., Bosi; L., Borrello; C., Bozzi; S., Braibant; H., Breuker; M., Bruzzi; A., Buffini; S., Busoni; Candelori, Andrea; A., Caner; R., Castaldi; A., Castro; E., Catacchini; B., Checcucci; P., Ciampolini; C., Civinini; D., Creanza; R., D'Alessandro; M. D., Rold; N., Demaria; M. d., Palma; R., Dell'Orso; R. D., Marina; S., Dutta; C., Eklund; A., Elliott Peisert; L., Feld; L., Fiore; E., Focardi; M., French; K., Freudenreich; A., Furtjes; A., Giassi; M., Giorgi; A., Giraldo; B., Glessing; W. H., Gu; G., Hall; R., Hammerstrom; T., Hebbeker; J., Hrubec; M., Huhtinen; A., Kaminsky; V., Karimaki; S., Koenig; M., Krammer; P., Lariccia; M., Lenzi; M., Loreti; K., Luebelsmeyer; W., Lustermann; P., Mattig; G., Maggi; M., Mannelli; G., Mantovani; A., Marchioro; C., Mariotti; G., Martignon; B. M., Evoy; M., Meschini; A., Messineo; E., Migliore; S., My; Paccagnella, Alessandro; F., Palla; D., Pandoulas; A., Papi; G., Parrini; D., Passeri; M., Pieri; S., Piperov; R., Potenza; V., Radicci; F., Raffaelli; M., Raymond; A., Santocchia; B., Schmitt; G., Selvaggi; L., Servoli; G., Sguazzoni; R., Siedling; L., Silvestris; K., Skog; A., Starodumov; I., Stavitski; G., Stefanini; P., Tempesta; G., Tonelli; A., Tricomi; T., Tuuva; C., Vannini; P. G., Verdini; G., Viertel; Z., Xie; Y. H., Li; S., Watts; B., Wittmer