Ed. K Ploog, Festkorperelektronik, Paul Drude Institut, Germany; G Weimann, Fraunhofer Institut, Germany; G Traenkle
On-state breakdown measurements in GaAs MESFETs and InP-based HEMTs
ZANONI, ENRICO;MENEGHESSO, GAUDENZIO;
1999
Abstract
Ed. K Ploog, Festkorperelektronik, Paul Drude Institut, Germany; G Weimann, Fraunhofer Institut, Germany; G TraenkleFile in questo prodotto:
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