Padua Research Archive, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Università degli Studi di Padova, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ateneo. Padua Research Archive utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

MENEGHESSO, GAUDENZIO

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	Titolo	Data di pubblicazione	Autori	Rivista	Titolo libro
1	WOCSEMMAD Report of Wocsdice	2012	MENEGHESSO, GAUDENZIO
2	Wide band gap Innovative SiC for Advanced Power (WInSiC4AP) a European project driving the future applications of SiC	2018	L. Liggio; A. Imbruglia; M. Saggio; M. Cacciato; J. Domingo Salvany; B. Silvestre; S. Reggiani; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; S. Patanè; M. Husak; M. C. Wurz; F. Roccaforte; P. Fiorenza; F. La Via; A. La Magna; X. Pignat; O. Metzelard; J. Favre; F. Di Leo; M. Haug; J-F. Michaud; D. Alquier; J. Havlik; T. Valentinetti; G. Viano; G. Russo		Proceedings of the European Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2018 (ECSCRM2018)
3	White-light sources based on GaN laser diodes: Analysis and application study	2018	TRIVELLIN, NICOLA ; YUSHCHENKO, MAKSYM ; BUFFOLO, MATTEO ; MENEGHINI, MATTEO ; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; ZANONI, ENRICO	PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING	Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
4	Welcome to ESSCIRC 2014	2014	MENEGHESSO, GAUDENZIO ; Pietro Andreani; BEVILACQUA, ANDREA		ESSCIRC 2014 - 40th European Solid State Circuits Conference (ESSCIRC)
5	Visible Light and Low-Energy UV Effects on Organic Thin-Film Transistors	2012	WRACHIEN, NICOLA ; CESTER, ANDREA ; BARI, DANIELE ; Ján Jakabovic; Jaroslav Kovac; Daniel Donoval; MENEGHESSO, GAUDENZIO	IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
6	Viscoelasticity Recovery Mechanism in Radio Frequency Microelectromechanical Switches	2016	BARBATO, MARCO ; CESTER, ANDREA ; MENEGHESSO, GAUDENZIO	IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
7	Variations in junction capacitance and doping activation associated with electrical stress of InGaN/GaN laser diodes	2013	DE SANTI, CARLO ; MENEGHINI, MATTEO ; CARRARO, SIMONE ; VACCARI, SIMONE ; TRIVELLIN, NICOLA ; S. Marconi; M. Marioli; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; ZANONI, ENRICO	MICROELECTRONICS RELIABILITY
8	Unpassivated GaN/AlGaN/GaN HEMTs with very low DC to RF drain current dispersion	2004	PIEROBON, ROBERTO ; RAMPAZZO, FABIANA ; CORRADINI, LUCA ; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; ZANONI, ENRICO ; J. BERNT; M. MARSO AND P. KORDOS
9	Understanding the degradation processes of GaN based LEDs submitted to extremely high current density	2017	RENSO, NICOLA ; MENEGHINI, MATTEO ; BUFFOLO, MATTEO ; DE SANTI, CARLO ; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; ZANONI, ENRICO	MICROELECTRONICS RELIABILITY
10	Understanding lead iodide perovskite hysteresis and degradation causes by extensive electrical characterization	2019	RIZZO, ANTONIO ; LAMBERTI, FRANCESCO ; BUONOMO, MARCO ; WRACHIEN, NICOLA ; TORTO, LORENZO ; LAGO, NICOLO' ; SANSONI, SIMONE ; Pilot, Roberto; Prato, Mirko; Michieli, Nicolò; MENEGHETTI, MORENO ; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; CESTER, ANDREA	SOLAR ENERGY MATERIALS AND SOLAR CELLS
11	Two-Step-Recess Gate InP-Based InAlAs/InGaAs HEMT's	2002	T. SUEMITSU; H. YOKOYAMA; T. ISHII; T. ENOKI; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; ZANONI, ENRICO	IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
12	Two-Dimensional Numerical Simulation of Deep Level Effect in 6H-SiC Buried-Gate JFETs	2001	G. VERZELLESI; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; A. CAVALLINI; ZANONI, ENRICO ; C. CANALI
13	Turn-On Speed Of Grounded Gate nMOS ESD protection Transistors	1996	MENEGHESSO, GAUDENZIO ; J. R. M. LUCHIES; F. KUPER; A. J. MOUTHAAN	MICROELECTRONICS RELIABILITY
14	Traps related effects in SiC and GaN-based devices	2001	MENEGHESSO, GAUDENZIO ; ZANONI, ENRICO
15	Traps localization and analysis in GaN HEMTs	2014	A. Chini; F. Soci; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; MENEGHINI, MATTEO ; ZANONI, ENRICO	MICROELECTRONICS RELIABILITY
16	Traps characterization in Si-doped GaN/AlGaN/GaN HEMT on SiC by means of low frequency techniques	2005	SOZZA, ALBERTO ; C. DUA; N. SARAZIN; E. MORVAN; S. L. DELAGE; RAMPAZZO, FABIANA ; TAZZOLI, AUGUSTO ; DANESIN, FRANCESCA ; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; ZANONI, ENRICO ; A. CURUTCHET; N. MALBERT; N. LABAT
17	Traps characterization in AlGaN/GaN HEMTs by means of Drain Current Transient Measurements	2012	F. Soci; A. Chini; F. Fantini; A. Nanni; A. Pantellini; C. Lanzieri; BISI, DAVIDE ; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; ZANONI, ENRICO		21th European workshop on Heterostructure Technology, HeTech 2012
18	Trapping processes related to iron and carbon doping in AlGaN/GaN power HEMTs	2015	MENEGHINI, MATTEO ; BISI, DAVIDE ; ROSSETTO, ISABELLA ; DE SANTI, CARLO ; STOCCO, ANTONIO ; Hilt, O.; Bahat Treidel, E.; Wuerfl, J.; RAMPAZZO, FABIANA ; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; ZANONI, ENRICO	PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING	Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
19	Trapping phenomena in AlGaN/GaN HEMTs: A study based on pulsed and transient measurements	2013	MENEGHESSO, GAUDENZIO ; MENEGHINI, MATTEO ; BISI, DAVIDE ; ROSSETTO, ISABELLA ; CESTER, ANDREA ; U. Mishra; ZANONI, ENRICO	SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY
20	Trapping phenomena and degradation mechanisms in GaN-based power HEMTs	2018	MENEGHINI, MATTEO ; TAJALLI, ALALEH ; Moens, Peter; Banerjee, Abhishek; ZANONI, ENRICO ; MENEGHESSO, GAUDENZIO	MATERIALS SCIENCE IN SEMICONDUCTOR PROCESSING

Dettaglio

Nome completo:

MENEGHESSO, GAUDENZIO

Varianti:

and G. Meneghesso
G. MENEGHESSO J. KOVAC
MENEGHESSO Gaudenzio
Gaudenzio Meneghesso
G. MENEGHESSO
MENEGHESSO G.