Ion Impact Detection and Micromapping With a SDRAM for IEEM Diagnostics and Applications / Bertazzoni, S; Bisello, Dario; Giubilato, Piero; Kaminsky, A; Mattiazzo, Serena; Mongiardo, L; Pantano, Devis; Rando, Riccardo; Salmeri, M; Salsano, A; Silvestrin, Luca; Tessaro, M; Wyss, J.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE. - ISSN 0018-9499. - 56:(2009), pp. 853-857. [10.1109/TNS.2009.2020408]
Titolo: | Ion Impact Detection and Micromapping With a SDRAM for IEEM Diagnostics and Applications | |
Autori: | ||
Data di pubblicazione: | 2009 | |
Rivista: | ||
Handle: | http://hdl.handle.net/11577/2437562 | |
Appare nelle tipologie: | 01.01 - Articolo in rivista |
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