Broad-area optical characterization of well-width homogeneity inGaN/AlxGa1-xN multiple quantum wells grown on sapphire wafers

BERTI, MARINA;NAPOLITANI, ENRICO;DRIGO, ANTONIO
2000
2000
APPLIED PHYSICS LETTERS
2-s2.0-0347561720
01.01 - Articolo in rivista
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